特許
J-GLOBAL ID:200903039512179419
半導体記憶装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
徳丸 達雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-045316
公開番号(公開出願番号):特開2005-327437
出願日: 2005年02月22日
公開日(公表日): 2005年11月24日
要約:
【課題】データ入力数がECC処理の対象とするデータビット数に満たない場合の問題を解消出来、データ入力数がECC処理の対象とするデータビット数と等しい場合は、エラー訂正ビットの生成を高速にすることができる。【解決手段】本発明の半導体記憶装置は、所定ビットのデータからエラー訂正ビットを生成するエラー訂正ビット生成回路を備え、外部から導入されたデータとメモリセルに格納されたデータを用いてエラー訂正ビットを生成することを特徴とする。より詳細には、外部から導入された第1のデータを受けるライトアンプと、第1のデータと関連のあるアドレスに対応する第2のデータが格納された第1のメモリセル群と、第1及び第2のデータを基にしてエラー訂正ビットを生成するエラー訂正ビット生成回路と、第1のデータを格納する第2のメモリセル群と、エラー訂正ビットを格納する第3のメモリセル群とを備える。【選択図】図2
請求項(抜粋):
所定ビットのデータからエラー訂正ビットを生成するエラー訂正ビット生成回路を備え、外部から導入されたデータとメモリセルに格納されたデータを用いて前記エラー訂正ビットを生成することを特徴とする半導体記憶装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G11C29/00 631Z
, G11C11/34 371C
Fターム (9件):
5L106AA01
, 5L106BB12
, 5L106FF04
, 5L106GG05
, 5M024BB30
, 5M024BB34
, 5M024MM09
, 5M024PP01
, 5M024PP07
引用特許:
出願人引用 (1件)
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記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-263398
出願人:甲府日本電気株式会社
審査官引用 (8件)
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特開昭62-117198
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半導体メモリー装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-032569
出願人:シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト
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リフレッシュ間隔制御装置及び方法、並びにコンピュータ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-013586
出願人:インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-161669
出願人:株式会社東芝
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-032788
出願人:株式会社日立製作所
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エラーレート判定方法と半導体集積回路装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-207717
出願人:株式会社日立製作所, 株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-016320
出願人:株式会社日立製作所, 株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ
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特開昭63-076194
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