特許
J-GLOBAL ID:200903041536746734

FFT分析方法、FFT分析装置及びソーナーシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 清水 守 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-161492
公開番号(公開出願番号):特開2001-343451
出願日: 2000年05月31日
公開日(公表日): 2001年12月14日
要約:
【要約】【課題】 過渡信号の影響を極力抑えることができるFFT分析方法、FFT分析装置及びソーナーシステムを提供する。【解決手段】 FFT用サンプリング開始制御用タイミング信号S1 が送られるFFT分析開始指示部1と、不要極大過渡信号を含む分析用信号S2 が入力されるとともに、そのFFT分析開始指示部1からの出力信号が送られる信号入力FFT分析部2を設け、過渡信号を、意図的にFFT分析に必要なサンプリングポイントの端に設定し、窓関数の効果によって、過渡信号のFFT分析結果に与える影響を低減させる。
請求項(抜粋):
過渡信号を意図的にFFT分析に必要なサンプリングポイントの端に設定し、窓関数の効果によって、前記過渡信号のFFT分析結果に与える影響を低減させることを特徴とするFFT分析方法。
Fターム (8件):
5J083AA01 ,  5J083AB14 ,  5J083AC18 ,  5J083AC28 ,  5J083BA01 ,  5J083BE20 ,  5J083BE43 ,  5J083CC03
引用特許:
審査官引用 (7件)
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