特許
J-GLOBAL ID:200903044452307092
半導体デバイス用誤動作抑制回路
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
安孫子 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-034741
公開番号(公開出願番号):特開2003-234647
出願日: 2002年02月13日
公開日(公表日): 2003年08月22日
要約:
【要約】【課題】 外来ノイズに起因する半導体デバイスの誤動作を抑圧し、動作の信頼性を向上する。【解決手段】 半導体デバイス用誤動作抑制回路Sは、電子機器100において用いられる半導体デバイス50のマクロセル・ロジックセル1内に設けられており、出力ピン3又は信号配線6における信号は、ピン・フィードバックとして半導体デバイス用誤動作抑制回路Sへ帰還されて監視されるようになっており、所定の状態が検出されると、電子機器100の動作をリセットするための異常検出信号SIGABが出力されるようになっている。
請求項(抜粋):
半導体デバイス内に設けられ、所定の信号の監視結果に基づいて、前記半導体デバイスを用いた電子機器の動作の正常化に必要な信号を生成し、外来ノイズの侵入に起因する前記半導体デバイスの出力信号の不正な出力状態を解消可能に構成されてなることを特徴とする半導体デバイス用誤動作抑制回路。
IPC (5件):
H03K 19/003
, H01L 21/82
, H01L 21/822
, H01L 27/04
, H03K 19/173
FI (5件):
H03K 19/003 E
, H03K 19/173
, H01L 27/04 H
, H01L 27/04 T
, H01L 21/82 A
Fターム (18件):
5F038BH13
, 5F038BH19
, 5F038CD06
, 5F038DF10
, 5F038DT08
, 5F038DT16
, 5F038EZ20
, 5F064AA07
, 5F064BB19
, 5F064BB33
, 5F064EE54
, 5F064FF14
, 5J032AA06
, 5J032AB31
, 5J032AC16
, 5J032AC18
, 5J042BA04
, 5J042DA00
引用特許:
審査官引用 (13件)
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ノイズ検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-000243
出願人:松下電器産業株式会社
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信号選択回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-047893
出願人:日産自動車株式会社
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特開平4-239818
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出力バッファ回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-141250
出願人:三菱電機株式会社
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半導体集積回路装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-221901
出願人:松下電器産業株式会社
-
BiCMOS論理回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-243733
出願人:日本電気株式会社
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静電放電検知及びクランプ制御回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-229576
出願人:ナショナルセミコンダクタコーポレイション
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ノイズ除去回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-299406
出願人:日本ビクター株式会社
-
集積回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-071655
出願人:テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド
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特開平4-239818
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出力制限回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-174777
出願人:横河電機株式会社
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多電源対応の半導体集積回路用入出力バッファ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-326609
出願人:日本電気株式会社
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特開平4-239818
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