特許
J-GLOBAL ID：200903045555912233
光学特性測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
大西 正夫
, 大西 孝治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-179184
公開番号（公開出願番号）：特開2007-292783
出願日： 2007年07月09日
公開日（公表日）： 2007年11月08日
要約：
【課題】本発明の目的は、LEDチップの発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップの光の強度及び/又は波長を正確に測定することができる光学特性測定装置を提供する。【解決手段】LEDチップ10の光を受光手段300で受光し、この受光手段300の出力結果に基いてLEDチップ10の光の光学特性を測定する装置であって、LEDチップ10が置かれる部分が少なくとも透明であるプレートと、このプレートを挟んでLEDチップ10の発光面と対向しており且つLEDチップ10の各方向の光を受光手段300に集める集光器500を備え、集光器500は、受光手段300が覗いており且つLEDチップ10の光を反射して受光手段300に入射させるために拡散反射性を有した略球面状の凹部510が設けられている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
LEDチップの光を受光手段で受光し、この受光手段の出力結果に基いてLEDチップの光の光学 特性を測定する光学特性測定装置において、
LEDチップが置かれる部分が少なくとも透明であるプレートと、
このプレートを挟んでLEDチップの発光面と対向しており且つLEDチップの光を受光手段に集める集光器と、を備えており、
集光器は、受光手段が覗いており且つLEDチップの各方向の光の光束を集めて当該受光手段に入射させるために拡散反射性を有した略球面状の凹部が設けられていることを特徴とする光学特性測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
2G065AA04
, 2G065AA13
, 2G065AB28
, 2G065BA01
, 2G065BB02
, 2G065BB05
, 2G065BB12
, 2G065BC33
, 2G065BC35
, 2G065DA05
, 2G086EE03
出願人引用 (1件)
-
発光素子測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-033404
出願人：シャープ株式会社
審査官引用 (7件)
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