特許
J-GLOBAL ID:200903045910156194
電解質膜-電極接合体およびその製造方法
発明者:
,
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
八田 幹雄
, 奈良 泰男
, 宇谷 勝幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-118262
公開番号(公開出願番号):特開2007-214101
出願日: 2006年04月21日
公開日(公表日): 2007年08月23日
要約:
【課題】起動停止におけるカソード触媒の腐食及びOCV保持時の電解質膜の分解を有効に抑制できる電解質膜-電極接合体を提供する。【解決手段】高分子電解質膜と、前記高分子電解質膜の一方の側に配置された、カソード触媒層と、前記高分子電解質膜の他方の側に配置された、アノード触媒層と、前記有効アノード触媒層の面積が前記有効カソード触媒層の面積よりも大きくなるように、前記カソード触媒層の端部の少なくとも一部に形成された、第一のガスケット層と、を有する、電解質膜-電極接合体。【選択図】図3A
請求項(抜粋):
高分子電解質膜と、
前記高分子電解質膜の一方の側に配置された、カソード触媒層と、
前記高分子電解質膜の他方の側に配置された、アノード触媒層と、
前記有効アノード触媒層の面積が前記有効カソード触媒層の面積よりも大きくなるように、前記カソード触媒層の端部に形成された、第一のガスケット層と、
を有する、電解質膜-電極接合体。
IPC (3件):
H01M 8/02
, H01M 8/10
, H01M 4/86
FI (5件):
H01M8/02 E
, H01M8/10
, H01M4/86 M
, H01M8/02 S
, H01M8/02 P
Fターム (12件):
5H018AA06
, 5H018BB08
, 5H018DD08
, 5H018DD10
, 5H018EE17
, 5H018HH02
, 5H026AA06
, 5H026BB04
, 5H026CX05
, 5H026CX07
, 5H026EE18
, 5H026HH02
引用特許: