特許
J-GLOBAL ID：200903046571776222

光学式変位センサおよびその制御方法

発明者：
大庭 仁志

大庭 仁志 について

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山下 吉弘

山下 吉弘 について

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中下 直哉

中下 直哉 について

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飯田 雄介

飯田 雄介 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (6件)： 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-219947
公開番号（公開出願番号）：特開2008-045926
出願日： 2006年08月11日
公開日（公表日）： 2008年02月28日
要約：
【課題】より精度の高い計測を可能にする光学式変位センサおよびその制御方法を提供する。【解決手段】制御部201は、まず照射指示を出力して(信号DRをLレベルからHレベルに変化させて)、投光部202に含まれるレーザダイオードの発光を開始させる。そして、制御部201は、照射指示を出力してから所定の期間が経過した後に撮像指示を出力して(信号SHTをHレベルからLレベルに変化させて)、受光部203に含まれる2次元撮像素子の撮像を開始させる。この「所定の期間」は、レーザダイオードが光ビームを発してから、その光ビームの強度の値が所定値に実質的に達するまでの期間に設定される。これにより2次元撮像素子のシャッタの開放直後から安定した投光条件が維持される。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
計測対象物体の表面に光ビームを照射する投光部と、 照射指示に応じて前記投光部を駆動する駆動回路と、 撮像指示に応じ、前記計測対象物体の表面において前記光ビームにより照射された照射領域を撮像する撮像部とを備え、 前記撮像部は、前記計測対象物体の表面の変位に応じて撮像面における前記照射領域の結像位置が変化する方向から、前記照射領域を撮像し、 前記照射指示を出力し、かつ、前記照射指示を出力してから所定の期間が経過した後に前記撮像指示を出力する撮像制御部と、 前記撮像部が撮像した前記照射領域の画像を用いて、所定の計測処理を実行する計測処理部とをさらに備える、光学式変位センサ。
IPC (2件)：
G01C 3/06 ,  G01B 11/00
FI (3件)：
G01C3/06 110A ,  G01B11/00 H ,  G01C3/06 140
Fターム (27件)：
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB15 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG06 ,  2F065GG08 ,  2F065HH04 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL28 ,  2F065LL30 ,  2F065NN02 ,  2F065NN15 ,  2F065PP15 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ23 ,  2F112AA09 ,  2F112CA08 ,  2F112DA25 ,  2F112DA26 ,  2F112DA28 ,  2F112EA05 ,  2F112FA45 ,  2F112GA01
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • センサ装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-102600   出願人：オムロン株式会社
審査官引用 (14件)
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