特許
J-GLOBAL ID:200903047425314361

研磨パッド

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 尾崎 雄三 ,  梶崎 弘一 ,  谷口 俊彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-182407
公開番号(公開出願番号):特開2009-018374
出願日: 2007年07月11日
公開日(公表日): 2009年01月29日
要約:
【課題】平坦化特性及び面内均一性に優れ、特にウエハ周辺部の平坦化特性に優れる研磨パッドと研磨パッドを用いた半導体デバイスの製造方法を提供する。【解決手段】研磨パッド1は研磨層とクッション層とを有し、クッション層は、アスカーC硬度40〜80度及び独立気泡率70〜90%のポリウレタンを含む発泡倍率1.5〜2.5倍の発泡体からなり吸水率は5%以下とする。研磨パッドは少なくとも研磨層が積層されている面側には無発泡のスキン層を有し、研磨層からクッション層まで貫通する孔を複数形成している。【選択図】図1
請求項(抜粋):
研磨層とクッション層とを有する研磨パッドにおいて、前記クッション層は、アスカーC硬度40〜80度及び独立気泡率70〜90%の発泡体からなり、かつ少なくとも研磨層が積層されている面側に無発泡のスキン層を有することを特徴とする研磨パッド。
IPC (3件):
B24B 37/00 ,  B24B 37/04 ,  H01L 21/304
FI (5件):
B24B37/00 P ,  B24B37/00 W ,  B24B37/00 T ,  B24B37/04 Y ,  H01L21/304 622F
Fターム (4件):
3C058AA07 ,  3C058AA09 ,  3C058CB01 ,  3C058DA17
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (5件)
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