特許
J-GLOBAL ID:200903048894278658
走査レンズまたは走査レンズ用金型の形状誤差評価方法、走査レンズまたは走査レンズ用金型の加工方法及び走査レンズまたは走査レンズ用金型
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-180679
公開番号(公開出願番号):特開2002-005651
出願日: 2000年06月16日
公開日(公表日): 2002年01月09日
要約:
【要約】【課題】本発明は高能率かつ高精度に走査レンズまたは走査レンズ用金型を加工する際の形状誤差評価方法、走査レンズまたは走査レンズ用金型の加工方法及び走査レンズまたは走査レンズ用金型加工物を提供する。【解決手段】走査レンズの光学性能を設計仕様値に近づける修正加工を行う基礎として、走査レンズ金型2のレンズ成形面2aを計測して設計形状に対する誤差量を評価・算出するに際して、計測を、レンズ成形面2aの光学的有効域Aiを包含する長さで、製作後の走査レンズに照射されるビームの主走査方向に少なくとも1回以上、主走査方向のピッチ間隔Pxが、走査レンズ上におけるビームプロファイル3の主走査方向の経Dxに対して、Px≦Dx/2なる関係にあるにピッチ間隔Pxで副走査方向に少なくとも2回以上行って、レンズ成形面2aの断面曲線を取り込む。したがって、走査レンズとしての部品機能を確保するうえで最小かつ必要十分な加工誤差を評価し、高精度で高能率に加工を行う。
請求項(抜粋):
走査レンズの光学性能を設計仕様値に近づける修正加工を行う基礎として、前記加工表面を計測して設計形状に対する誤差量を評価・算出する走査レンズまたは走査レンズ用金型の形状誤差評価方法において、前記計測を、前記加工表面の光学的有効域を包含する長さで、製作後の走査レンズに照射されるビームの走査方向と平行な方向に少なくとも1回以上、当該ビーム走査方向のピッチ間隔Pxが、当該走査レンズ上における前記ビームの走査方向の経Dxに対して、Px≦Dx/2なる関係にあるにピッチ間隔Pxで前記ビーム走査方向と直交する方向に少なくとも2回以上行って、当該加工表面の断面曲線を取り込むことを特徴とする走査レンズまたは走査レンズ用金型の形状誤差評価方法。
IPC (3件):
G01B 21/20 101
, B29C 33/38
, B29L 11:00
FI (3件):
G01B 21/20 101
, B29C 33/38
, B29L 11:00
Fターム (17件):
2F069AA66
, 2F069BB40
, 2F069GG01
, 2F069GG12
, 2F069GG62
, 2F069GG71
, 2F069HH01
, 2F069JJ06
, 2F069JJ22
, 2F069LL02
, 2F069NN04
, 2F069NN18
, 4F202AH74
, 4F202CA30
, 4F202CB01
, 4F202CD18
, 4F202CD30
引用特許:
審査官引用 (9件)
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特開平3-135712
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非球面形状評価装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-180202
出願人:株式会社リコー
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形状解析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-049295
出願人:株式会社ミツトヨ
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