特許
J-GLOBAL ID:200903049308072406

工程管理装置、工程管理プログラム、工程管理プログラムを記録した記録媒体、および工程管理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 増井 義久 ,  比村 潤相
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-233665
公開番号(公開出願番号):特開2007-048158
出願日: 2005年08月11日
公開日(公表日): 2007年02月22日
要約:
【課題】 ユーザからの回答を利用して不良要因を推定する場合に、どのような状況においても、不良要因を特定する際に必要とされる質問数を低く抑えることを可能とする工程管理装置を提供する。【解決手段】 不良結果から該不良結果に対応する各不良要因に至る要因推定の診断パスを、条件分岐による木構造の知識として示す因果ネットワークが推定知識記録部23に記憶されている。推論処理部61が、上記因果ネットワークに基づいて要因推定処理を行う際に、ユーザからの回答内容に応じて該当条件に対する適合度が適合度演算部62によって算出される。そして、診断パス絞り込み部65が、所定の閾値以下となった条件より下流側の診断パスおよび不良要因を要因推定対象外として設定する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を1つ以上対応付けるとともに、各不良結果から該不良結果に対応する各不良要因に至る要因推定の診断パスを、条件分岐による木構造の知識として示す要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、 上記推定知識記録部に記録されている上記要因推定知識情報に基づいて要因推定処理を行う推論処理手段と、 上記推論処理手段によって要因推定処理が行われる過程において、上記要因推定知識情報に含まれる条件に対応する質問に対するユーザからの回答を取得する入力制御手段と、 上記入力制御手段によって取得された回答に基づいて、該条件を満たす度合いを示す適合度を算出する適合度演算手段と、 特定の診断パスおよび不良要因を要因推定対象外として設定する診断パス絞り込み手段とを備え、 上記診断パス絞り込み手段が要因推定対象外として設定する特定の診断パスおよび不要要因が、上記適合度演算手段によって算出された適合度が所定の閾値以下となった場合の該条件を含む診断パスおよび不良要因、あるいは、上記適合度演算手段によって算出された適合度のうち、特定の診断パスに含まれる適合度の集合を代表する値が所定の閾値以下となった場合の該診断パスおよび不良要因であることを特徴とする工程管理装置。
IPC (2件):
G05B 19/418 ,  H05K 3/34
FI (2件):
G05B19/418 Z ,  H05K3/34 512A
Fターム (12件):
3C100AA58 ,  3C100CC01 ,  3C100CC02 ,  3C100CC11 ,  3C100CC12 ,  3C100CC14 ,  3C100CC16 ,  3C100EE07 ,  5E319BB05 ,  5E319CC33 ,  5E319CD51 ,  5E319GG15
引用特許:
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (5件)
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