特許
J-GLOBAL ID:200903057671610870
有機ELリペア方法とリペア装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
竹内 陽一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-226486
公開番号(公開出願番号):特開2007-042492
出願日: 2005年08月04日
公開日(公表日): 2007年02月15日
要約:
【課題】レーザ照射装置を使用せず、低コストで 欠陥部を有する有機EL素子をリペアする方法及び、装置を提供する。【解決手段】有機EL素子の電圧電流特性の計測、または、逆電圧が印加された状態下の有機EL素子の発光像の輝度を有機EL素子の領域ごとに把握・比較して輝点が 存在するか否かの判断をして、有機EL素子は欠陥部を有するか否かを判定するとともに、欠陥部が存在すると判定された場合には、有機EL素子に逆印加電圧を一定時間印加することによって有機EL素子の欠陥部分をリペアする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
有機EL素子の欠陥部のリペアを行うリペア方法であって、
前記有機EL素子に、前記有機EL素子の陰極を高電位、陽極を低電位とする電圧(以下「逆印加電圧」ともいう)を一定時間印加して、有機EL素子の欠陥部のリペアをすることを特徴とするリペア方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (4件):
3K007AB18
, 3K007DB03
, 3K007FA00
, 3K007GA00
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (8件)
-
特開平4-014794
-
発光装置及びその作製方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-120650
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
-
発光装置の修理方法及び作製方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-302587
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
全件表示
前のページに戻る