特許
J-GLOBAL ID:200903057671610870

有機ELリペア方法とリペア装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 竹内 陽一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-226486
公開番号(公開出願番号):特開2007-042492
出願日: 2005年08月04日
公開日(公表日): 2007年02月15日
要約:
【課題】レーザ照射装置を使用せず、低コストで 欠陥部を有する有機EL素子をリペアする方法及び、装置を提供する。【解決手段】有機EL素子の電圧電流特性の計測、または、逆電圧が印加された状態下の有機EL素子の発光像の輝度を有機EL素子の領域ごとに把握・比較して輝点が 存在するか否かの判断をして、有機EL素子は欠陥部を有するか否かを判定するとともに、欠陥部が存在すると判定された場合には、有機EL素子に逆印加電圧を一定時間印加することによって有機EL素子の欠陥部分をリペアする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
有機EL素子の欠陥部のリペアを行うリペア方法であって、 前記有機EL素子に、前記有機EL素子の陰極を高電位、陽極を低電位とする電圧(以下「逆印加電圧」ともいう)を一定時間印加して、有機EL素子の欠陥部のリペアをすることを特徴とするリペア方法。
IPC (2件):
H05B 33/10 ,  H01L 51/50
FI (2件):
H05B33/10 ,  H05B33/14 A
Fターム (4件):
3K007AB18 ,  3K007DB03 ,  3K007FA00 ,  3K007GA00
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (8件)
全件表示

前のページに戻る