特許
J-GLOBAL ID：200903061849570042

深部分解による試料把握のための方法および配置

発明者：
ラルフ ヴォレシェンスキー

ラルフ ヴォレシェンスキー について

, 
ミケール ケンぺ

ミケール ケンぺ について


出願人/特許権者：
カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング について


代理人 (1件)： 松田 省躬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-293202
公開番号（公開出願番号）：特開2003-227796
出願日： 2002年10月07日
公開日（公表日）： 2003年08月15日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】生物学プレパラートの成長における特に動力学的な過程を検査することのできる方法【解決手段】光源LQの短コヒーレント光、たとえば短パルスレーザは、ビームスプリッタBS1により2成分ビーム1,2に分解され、成分ビーム1は、音響光学変調器AOM(またはAOTF)により、現状技術に基づくレーザ走査型顕微鏡LSM内に到達し、光は主ビームスプリッタMDBおよびスキャナSCを通じて試料P内に結像される。スキャナにより試料を光学軸に垂直な2方向X、Yに走査することができる。試料から後方散乱した光は、MDBによってビームスプリッタBS2および検出器の方向に偏向される。成分ビーム2は、分散補償DK、強度NDを適合させるための(光学的増幅を適合させるための)手段および遅延区間を通じて同様にBS2上に到達する。両成分ビームは、BS2で干渉測定上重なり合う。
請求項（抜粋）：
ヘテロダイン検出のために干渉計の配置される干渉計アーム内における迅速変調のための光学変調器の配置。
IPC (5件)：
G01N 21/64 ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/00 ,  G01N 21/17 630 ,  G01N 21/27
FI (5件)：
G01N 21/64 E ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/00 G ,  G01N 21/17 630 ,  G01N 21/27 H
Fターム (66件)：
2F064AA01 ,  2F064EE04 ,  2F064FF01 ,  2F064GG04 ,  2F064GG22 ,  2F064GG37 ,  2F064GG39 ,  2F064GG41 ,  2F064GG49 ,  2F064GG70 ,  2F064HH01 ,  2F064HH05 ,  2F064JJ03 ,  2F064JJ05 ,  2F065AA01 ,  2F065FF52 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065HH08 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ17 ,  2F065LL02 ,  2F065LL30 ,  2F065LL42 ,  2F065LL46 ,  2F065LL47 ,  2F065LL57 ,  2F065LL67 ,  2F065MM03 ,  2F065NN08 ,  2F065PP24 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA02 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA06 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA04 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK02 ,  2G059MM01
引用特許：
審査官引用 (9件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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