特許
J-GLOBAL ID：200903066168183328
X線断層像検査装置による電力機器の検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (2件)：
小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-341253
公開番号（公開出願番号）：特開2004-177175
出願日： 2002年11月25日
公開日（公表日）： 2004年06月24日
要約：
【課題】電力機器の劣化の原因は、電力機器を構成する材料自体に発生するマイグレーション、クラック、ピンホールが原因と予測されているが、実際に使用電力機器でこれらの欠陥を直接観察したり、その成長過程や進行状況を把握することが困難であり、寿命予測も難しいものとなっていた。【解決手段】電力機器用X線断層像検査装置において、上記電力機器の製造初期の所定部位のX線断層像データとその時の撮像条件を蓄積し、所定時間経過後に上記電力機器の上記所定部位を上記撮像条件と同じ条件で撮影したX線断層像データを蓄積し、上記製造初期の所定部位のX線断層像データと上記所定時間経過後の上記所定部位の撮影したX線断層像データとを比較し、上記比較結果より所定の判定基準に基づき、上記電力機器の劣化を検査するX線断層像検査装置による電力機器の検査方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
垂直軸の回りに回転すると共に電力機器を搭載する載置台と、X線を発生すると共に、上記X線の光軸が上記垂直軸に対して傾斜するように配置されたX線発生部と、上記載置台に載置された電力機器を透過したX線像を光学像に変換する手段と、上記載置台の回転と同期して上記光学像を回転する手段と、上記回転された光学像を電気信号に変換する手段と、上記電気信号を処理してX線断層像を得る制御装置からなる電力機器用X線断層像検査装置において、上記電力機器の製造初期の所定部位のX線断層像データとその時の撮像条件を蓄積し、所定時間経過後に上記電力機器の上記所定部位を上記撮像条件と同じ条件で撮影したX線断層像データを蓄積し、上記製造初期の所定部位のX線断層像データと上記所定時間経過後の上記所定部位の撮影したX線断層像データとを比較し、上記比較結果より所定の判定基準に基づき、上記電力機器の劣化を検査することを特徴とするX線断層像検査装置による電力機器の検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (18件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA09
, 2G001FA01
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001HA09
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G001JA06
, 2G001JA08
, 2G001KA03
, 2G001KA04
, 2G001LA11
, 2G001PA12
出願人引用 (18件)
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審査官引用 (11件)
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