特許
J-GLOBAL ID：200903070754205575
電位変化測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
柏木 慎史
, 柏木 明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-219814
公開番号（公開出願番号）：特開2006-038666
出願日： 2004年07月28日
公開日（公表日）： 2006年02月09日
要約：
【課題】 光減衰電位変化による変位電流測定において、副走査方向の空間分解能を確保しながら検出信号のS/N比を向上させる。【解決手段】 副走査方向に回転駆動する感光体2の表面を帯電器3で帯電させ、その感光体2を画像書込器4からの書込光で主走査方向に1回露光走査してその表面に副走査方向のサイズがAである1ライン潜像を書き込み、検出照射器5によりその1ライン潜像の副走査方向の両端及び中央を含むN(N≧3)個の検出位置に対してそれぞれ検出光を、その検出光による露光領域の副走査方向のサイズをa(a≦A/(N-1))とし、その主走査方向のサイズをb(b>a)とし、その面積を所定値以上として照射し、電極10により露光領域の光減衰電位変化を変位電流として検出するようにした。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
副走査方向に回転駆動する感光体の表面を帯電させる帯電器と、
帯電した感光体を書込光で主走査方向に1回露光走査して、感光体の表面に副走査方向のサイズがAである1ライン潜像を書き込む画像書込器と、
前記1ライン潜像の副走査方向の両端及び中央を含むN(N≧3)個の検出位置に対してそれぞれ検出光を、その検出光による露光領域の副走査方向のサイズがa(a≦A/(N-1))となり、その主走査方向のサイズがb(b>a)となり、その面積が所定値以上となるように照射する検出照射器と、
前記感光体の表面に対向させ前記検出光による露光領域に近接させて設けられた電極を有し、その電極で前記検出光による露光領域の光減衰電位変化を変位電流として検出する検出部と、
を備える電位変化測定装置。
IPC (3件)：
G01R 29/12
, G03G 5/00
, G03G 21/00
G01R29/12 Z
, G03G5/00 101
, G03G21/00
出願人引用 (3件)
審査官引用 (9件)
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引用文献：
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