特許
J-GLOBAL ID：200903078513853992
電子顕微鏡のための超高傾斜試験片低温移送ホルダ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
社本 一夫 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-539698
公開番号（公開出願番号）：特表2000-513135
出願日： 1998年03月10日
公開日（公表日）： 2000年10月03日
要約：
【要約】低温の液体を溢れさせることなく、試験片の適正な保護及び冷却を維持した状態で、360°の全傾斜角度(水平から右まわり及び左まわりに180°)にわたって試験片を回転させることのできる超高傾斜低温移送ホルダが提供される。低温移送ホルダは試験片チップを備えたホルダ本体と、試験片チップのための冷却源とを有する。試験片チップは交差するグリッドバー間に複数のグリッド開口を有する熱導電性材料試験片グリッドを含む。グリッドはホルダから前方の視界位置へ延びることができ、または、低温シールド内の保護位置へ引き戻ることができる。
請求項（抜粋）：
電子顕微鏡のための試験片低温移送ホルダであって、 試験片チップを有するホルダ本体であって、試験片チップが熱伝導性材料の試験片グリッドを含み、試験片グリッドがグリッド開口を形成するように交差する複数のグリッドバーを有し、グリッド開口の各々が、ホルダ本体の長手軸線に実質上垂直で当該開口の幅より大きな長さを有し、試験片チップが水平から両方向に少なくとも約90°の角度にわたって回転できるようになったホルダ本体;及び 上記試験片チップのための冷却源;を有することを特徴とする試験片低温移送ホルダ。
引用特許：
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