特許
J-GLOBAL ID:200903084061541505
EUV光の放射方法、および前記EUV光を用いた感応基板の露光方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
上代 哲司
, 神野 直美
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-277964
公開番号(公開出願番号):特開2009-105006
出願日: 2007年10月25日
公開日(公表日): 2009年05月14日
要約:
【課題】レーザービームを用いて従来よりもEUV光への高い変換効率を得ることができ、従来よりもデブリの発生量を少なくすることができ、低コストでEUV光を放射させる方法を提供する。【解決手段】ターゲット材料にプレパルスレーザービームを照射してプラズマを発生させた後、メインパルスレーザービームを照射してEUV光を放射させるダブルパルス照射法によるEUV光の放射方法であって、前記ターゲット材料が錫および錫化合物の少なくとも一方からなり、前記プレパルスレーザービームの照射により発生したプラズマのイオン密度が1×1016〜1×1019cm-3であり、且つ前記メインパルスレーザービームが赤外域のレーザービームであるEUV光の放射方法。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
ターゲット材料にプレパルスレーザービームを照射してプラズマを発生させた後、メインパルスレーザービームを照射してEUV光を放射させるダブルパルス照射法によるEUV光の放射方法であって、
前記ターゲット材料が錫および錫化合物の少なくとも一方からなり、
前記プレパルスレーザービームの照射により発生したプラズマのイオン密度が1×1016〜1×1019cm-3であり、
且つ前記メインパルスレーザービームが赤外域のレーザービームであることを特徴とするEUV光の放射方法。
IPC (4件):
H05G 2/00
, H01L 21/027
, G03F 7/20
, H01S 3/00
FI (5件):
H05G1/00 K
, H01L21/30 531S
, H01L21/30 515B
, G03F7/20 521
, H01S3/00 B
Fターム (8件):
4C092AA06
, 4C092AA17
, 5F046CA03
, 5F046DA01
, 5F046DB01
, 5F046DC01
, 5F046GC03
, 5F172ZZ02
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (6件)
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