特許
J-GLOBAL ID：200903087523512211

二次電池用の制御装置、二次電池の温度推定方法、及びこの方法を用いた二次電池の劣化判定方法

発明者：
山本 貴生

山本 貴生 について


出願人/特許権者：
パナソニック・イーブイ・エナジー株式会社

パナソニック・イーブイ・エナジー株式会社 について


代理人 (2件)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-346756
公開番号（公開出願番号）：特開2007-157348
出願日： 2005年11月30日
公開日（公表日）： 2007年06月21日
要約：
【課題】従来に比べて正確な電池温度を演算によって取得し得る二次電池用の制御装置、二次電池の温度推定方法、この方法を用いた二次電池の劣化判定方法を提供する。【解決手段】二次電池の電池温度の推定において、二次電池のジュール発熱による発熱量を算出し、二次電池の化学反応発熱による発熱量を算出し、算出したジュール発熱による発熱量と、算出した化学反応発熱による発熱量とに基づいて、二次電池の電池温度を算出する。二次電池に冷却装置が取り付けられている場合は、ジュール発熱による発熱量、化学反応発熱による発熱量、及び冷却装置の冷却能力に基づいて、二次電池の電池温度を算出するのが好ましい。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
二次電池のジュール発熱による発熱量と前記二次電池の化学反応発熱による発熱量とを算出し、前記ジュール発熱による発熱量と前記化学反応発熱による発熱量との和を算出し、前記和に基づいて、前記二次電池の電池温度を算出する演算部を有することを特徴とする二次電池用の制御装置。
IPC (5件)：
H01M 10/48 ,  G01R 31/36 ,  B60W 10/26 ,  B60W 20/00 ,  H02J 7/00
FI (5件)：
H01M10/48 301 ,  G01R31/36 A ,  G01R31/36 Z ,  B60K6/04 330 ,  H02J7/00 Y
Fターム (24件)：
2G016CA03 ,  2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB13 ,  2G016CB31 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC07 ,  2G016CC13 ,  2G016CC16 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  2G016CF06 ,  5G003AA01 ,  5G003BA01 ,  5G003DA07 ,  5G003EA08 ,  5G003FA06 ,  5G003GC05 ,  5H030AS08 ,  5H030FF22 ,  5H030FF42 ,  5H030FF52
引用特許：
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (8件)
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