特許

J-GLOBAL ID：200903089620195142

距離測定装置および距離測定方法

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発明者： 西澤 典彦 ,  後藤 俊夫
出願人/特許権者： 国立大学法人名古屋大学
代理人 (1件)： 特許業務法人アイテック国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-177482
公開番号（公開出願番号）：特開2006-126168
出願日： 2005年06月17日
公開日（公表日）： 2006年05月18日
要約：

【課題】 対象物までの距離を高い精度で迅速に測定する。【解決手段】 超短パルスファイバレーザ22からのパルス光を光分岐器24により参照光Aと信号光とに分岐し、信号光についてはスキャニングミラー装置28により対象物10に照射してその反光である散乱光を受光し、参照光Aについては光路長調整部30により光路長を変更する。そして、光路長が変更された参照光Aと散乱光Bとの干渉の程度を干渉信号として差動検出器40により検出し、干渉信号が最大となる光路長に対応する光路長調整部30の調整値からスキャニングミラー装置28から対象物10までの距離を演算することにより、対象物10のパルス光が照射された位置のまでの距離を測定する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

対象物までの距離を測定する距離測定装置であって、 短い間隔でパルス光を発生する短パルス光源と、 該短パルス光源からのパルス光を信号光と参照光とに分岐する光分岐手段と、 該光分岐手段により分岐された信号光を前記対象物に照射すると共に該対象物から該信号光の照射により反射される散乱光を受光する照射受光手段と、 前記光分岐手段により分岐された参照光を入力すると共に伝搬時間を調整して出力する伝搬時間調整手段と、 前記伝搬時間調整手段により伝搬時間が調整された参照光と前記照射受光手段により受光された散乱光との重ね合わせに基づいて干渉信号を生成する干渉信号生成手段と、 前記伝搬時間調整手段により調整された伝搬時間と前記干渉信号生成手段により生成された干渉信号とに基づいて前記信号光の照射地点から前記対象物までの距離を演算する距離演算手段と、 を備える距離測定装置。

IPC (1件)：

G01S 17/10

FI (1件)：

G01S17/10

Fターム (15件)：

5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084AD08 ,  5J084BA03 ,  5J084BA48 ,  5J084BA51 ,  5J084BB14 ,  5J084BB24 ,  5J084BB28 ,  5J084BB31 ,  5J084CA03 ,  5J084CA07 ,  5J084DA01 ,  5J084DA08 ,  5J084EA04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許第3390755号公報
  

審査官引用 (3件)

• 干渉計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-048687   出願人：藤井雄作
• 特許第3390755号
  
• 光イメージング装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-078743   出願人：オリンパス光学工業株式会社