特許
J-GLOBAL ID：200903091742510817
計測データ比較装置および形状品質評価システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
吉田 研二
, 石田 純
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-378230
公開番号（公開出願番号）：特開2004-212051
出願日： 2002年12月26日
公開日（公表日）： 2004年07月29日
要約：
【課題】製作物の形状計測によって得た計測データを、被比較データと比較する際に、製作物の部分的な特性の不均一を考慮する。【解決手段】同型の製作物毎に与えられる部分的範囲を設定する(S4)。部分的範囲は、製作物において誤差が小さいと見込まれる箇所とすることができるし、製作工程が単純な部分としても良い。そして、この部分的範囲を対象に計測データと被比較データとの比較基準位置を求める(S5)。次いで、全範囲について、両データをこの比較基準位置と対応づけ(S6)、比較基準位置に基づいて両データの比較を行う(S7)。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
製作物の形状計測を行って作成した計測データを、被比較データと比較する計測データ比較装置であって、
同型の製作物毎に部分的範囲を設定する部分的範囲設定手段と、
部分的範囲を対象に両データの比較基準位置を決める比較基準位置決定手段と、
この比較基準位置に基づいて両データを比較する比較手段と、
を備えることを特徴とする計測データ比較装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2F069AA04
, 2F069AA61
, 2F069DD22
, 2F069GG07
, 2F069GG09
, 2F069GG71
, 2F069NN16
, 2F069NN17
