特許
J-GLOBAL ID:200903096910602082
集積回路及び物理量検出システム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
作田 康夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-151121
公開番号(公開出願番号):特開2000-338193
出願日: 1999年05月31日
公開日(公表日): 2000年12月08日
要約:
【要約】【課題】各種条件下(低温,高温,高圧力,高電界,高磁界,高電磁界)で検査・調整できる集積回路及び物理量検出システムを提供することにある。【解決手段】本物理量検出システムは測定物理量の変化に応じて出力信号が変化する物理量検出素子1,物理量検出素子1の出力信号の感度,ゼロ点,温度特性などを補正する補正集積回路2より構成される。補正集積回路2は物理量検出素子1の出力信号の補正処理をする補正回路3,本物理量検出システムの外部と通信を行う通信回路8,通信回路8からの情報を基に補正回路3の内部信号を変化させる信号発生器5,通信回路8からの情報を基に補正回路3の内部信号を観測し、通信回路8へ観測情報を転送する観測回路6,通信回路8からの情報を基にPROM4へ書き込み処理を行う書込回路7,補正回路3の補正量を記憶するPROM4により構成される。
請求項(抜粋):
通信手段を有する集積回路において、前記通信手段へ転送されたデータに基づき、前記集積回路の内部信号を変化させる手段と、前記内部信号の変化により前記集積回路の故障の有無を判定できる内部信号を観測し前記通信手段を介して外部に転送する手段を有することを特徴とする集積回路。
IPC (3件):
G01R 31/28
, H01L 27/04
, H01L 21/822
FI (2件):
G01R 31/28 V
, H01L 27/04 T
Fターム (23件):
2G032AA04
, 2G032AA08
, 2G032AB02
, 2G032AB12
, 2G032AB13
, 2G032AD01
, 2G032AD06
, 2G032AD07
, 2G032AE07
, 2G032AE12
, 2G032AE14
, 2G032AF01
, 2G032AG02
, 2G032AG07
, 2G032AH07
, 2G032AL00
, 5F038BB04
, 5F038BB08
, 5F038DF17
, 5F038DT05
, 5F038DT15
, 5F038DT17
, 5F038DT18
引用特許:
審査官引用 (11件)
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半導体集積回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-252072
出願人:日本電気株式会社
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特開平2-208799
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電気計器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-308818
出願人:横河電機株式会社
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メモリを備えた組込み自己検査
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-100721
出願人:インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
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特開平4-102080
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マイクロコンピュータ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-255058
出願人:三洋電機株式会社
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電子機器診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-090107
出願人:日本ビクター株式会社
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特開平4-289476
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圧力センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-286794
出願人:富士電機株式会社
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特開昭62-272622
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半導体磁電変換装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-209570
出願人:三菱電機株式会社
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