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J-GLOBAL ID:201002294317563201   整理番号:10A0655106

Si-L23VV Auger電子-Si-2p光電子同時分光法を用いた清浄なSi(100)-2×1の原子価電子構造の表面部位選択的研究

Surface-Site-Selective Study of Valence Electronic Structures of Clean Si(100)-2×1 Using Si-L23VV Auger Electron-Si-2p Photoelectron Coincidence Spectroscopy
著者 (7件):
資料名:
巻: 79  号:ページ: 064714.1-064714.4  発行年: 2010年06月15日 
JST資料番号: G0509A  ISSN: 0031-9015  CODEN: JUPSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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Si-L23VV Auger電子-Si-2p光電子同時分光法を用いて表面部位選択的に清浄なSi(100)-2×1表面の原子価電子構造を調べた。Si(100)-2×1のSi上方原子あるいはSi第二層から放出されるSi 2p光電子と同時に測定したSi-L23VV Auger電子スペクトルは,Si上方原子の近傍に最高密度の原子価電子状態が存在する位置がSi第二層の近傍におけるそれに対してより低い結合エネルギーの方向に0.8eVだけシフトすることを示唆する。さらに,Si上方原子の近傍における原子価帯の極大がSi第二層の近傍におけるそれに対してより低いエネルギーの方向に0.1eVだけシフトすることを示した。これらの結果は,Si第二層からSi上方原子への負電荷輸送の直接的証拠である。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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電子分光スペクトル 

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