特許
J-GLOBAL ID：201003050185645090
超音波診断装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
奥田 誠司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-239228
公開番号（公開出願番号）：特開2010-068987
出願日： 2008年09月18日
公開日（公表日）： 2010年04月02日
要約：
【課題】操作者が煩雑な操作をすることなく、適切なゲインレベルの断層画像を得ることのできる超音波診断装置を提供する。【解決手段】ゲインコントロール部107は、断層画像フレームの各画素の輝度情報に基づいて、各画素の輝度に対するオフセット値によるオフセットパターンを少なくとも1つ生成するオフセットパターン生成部107dと、オフセットパターンに基づいて、断層画像フレーム全体に用いられる1つのオフセット値からなるトータルゲイン、断層画像フレームの深度方向に用いられるオフセット値を有する深度方向ゲイン、断層画像フレームの走査方向に用いられるオフセット値を有する走査方向ゲイン、および断層画像フレームの各画素に用いられるオフセット値を有するフレームゲインのうちの少なくとも1つを決定し、決定した少なくとも1つに基づき設定ゲインを決定するゲイン決定部107cとを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被検体を所定の期間ごとに超音波ビームで走査するように探触子を駆動する送信部と、
前記超音波ビームが前記被検体において反射することにより得られるエコーを前記探触子によって受信し、前記所定の期間ごとに受信信号を生成する受信部と、
前記受信信号の強度に基づく輝度情報によって構成される断層画像フレームを所定の期間ごとに生成し、生成した断層画像フレームの輝度を設定ゲインにより調整する画像構築部と、
前記設定ゲインを生成するゲインコントロール部と、
前記輝度が調整された断層画像フレームを表示する表示部と、
を備え、
前記ゲインコントロール部は、
前記断層画像フレームの各画素の輝度情報に基づいて、前記各画素の輝度に対するオフセット値によるオフセットパターンを少なくとも1つ生成するオフセットパターン生成部と、
前記オフセットパターンに基づいて、前記断層画像フレーム全体に用いられる1つのオフセット値からなるトータルゲイン、前記断層画像フレームの深度方向に用いられるオフセット値を有する深度方向ゲイン、前記断層画像フレームの走査方向に用いられるオフセット値を有する走査方向ゲイン、および前記断層画像フレームの各画素に用いられるオフセット値を有するフレームゲインのうちの少なくとも1つを決定し、決定した少なくとも1つに基づき前記設定ゲインを決定するゲイン決定部と、
を有する超音波診断装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
4C601EE11
, 4C601JB13
, 4C601JB36
, 4C601JC07
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (10件)
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