特許
J-GLOBAL ID:201003058414503009

レーザスキャナ及びレーザスキャナ測定システム及びレーザスキャナ測定システムの較正方法及び較正用ターゲット

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 祥二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-331412
公開番号(公開出願番号):特開2010-151682
出願日: 2008年12月25日
公開日(公表日): 2010年07月08日
要約:
【課題】測定した点の特定や点検が容易に行え、又レーザスキャナ測定システムのキャリブレーションを簡単に実施できる様にする。【解決手段】パルスレーザ光線を発する発光素子18と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部9と、測距受光部21を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部20と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部10を具備するレーザスキャナ3と、既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、既知の位置に設置された較正用ターゲットとを備え、前記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線を光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記反射部の中心位置を求め、求めた中心位置と前記既知の位置とに基づきレーザスキャナ測定システムの較正を行う。【選択図】図3
請求項(抜粋):
パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナであって、前記制御部は前記測距受光部が受光する反射パルスレーザ光線の光量のレベル検出により前記対象物の判別を行う様にしたことを特徴とするレーザスキャナ。
IPC (2件):
G01S 17/06 ,  G01S 17/88
FI (2件):
G01S17/06 ,  G01S17/88
Fターム (15件):
5J084AA04 ,  5J084AB17 ,  5J084AC02 ,  5J084AD01 ,  5J084BA11 ,  5J084BA50 ,  5J084BA55 ,  5J084BB04 ,  5J084BB14 ,  5J084BB28 ,  5J084CA03 ,  5J084CA23 ,  5J084CA67 ,  5J084EA08 ,  5J084EA11
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
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