特許
J-GLOBAL ID：201003092559734738

キチン結晶化度測定装置

発明者：
貝原 巳樹雄

貝原 巳樹雄 について

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戸谷 一英

戸谷 一英 について

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二階堂 満

二階堂 満 について

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猪股 尚治

猪股 尚治 について


出願人/特許権者：
独立行政法人国立高等専門学校機構

独立行政法人国立高等専門学校機構 について

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株式会社アーステクニカ

株式会社アーステクニカ について


代理人 (2件)： 関 正治 ,  柳瀬 睦肇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-035741
公開番号（公開出願番号）：特開2010-190746
出願日： 2009年02月18日
公開日（公表日）： 2010年09月02日
要約：
【課題】キチンの結晶化度をリアルタイムで測定できるキチン結晶化度測定装置を提供する。特に、オンラインで高速測定して粉砕装置や搬送装置にフィードバックすることができるキチン結晶化度測定装置を提供する。【解決手段】キチン粉末試料2に近赤外光を照射する光源ランプ11と、試料から入射する近赤外光の光量を検出する赤外光センサ12と、事前に生成した検量線を記録する記憶装置16と、検出結果と検量線に基づいてキチンの結晶化度を算定する演算装置17,18とを備え、赤外光センサ12の検出結果に基づいて近赤外スペクトルを求め、近赤外スペクトルの2次微分を求めて変換スペクトルとし、変換スペクトルの所定の波長範囲における強度を検量線と比較してキチンの結晶化度を推定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
所定の測定位置におけるキチン粉体試料に近赤外光を照射する光源ランプと、 該試料から入射する近赤外光の光量を検出する近赤外センサと、 事前に生成した近赤外光光量と試料の結晶化度を関連づける検量線を記録する記憶装置と、 前記近赤外センサの検出結果と前記検量線とに基づいてキチンの結晶化度を算定する演算装置とを備え、 前記近赤外センサの検出結果に基づいて近赤外スペクトルを求め、該近赤外スペクトルに変換処理を施して変換スペクトルとし、複数の波長領域において前記変換スペクトルの特性値を前記検量線と比較して前記キチンの結晶化度を推定する、 キチン結晶化度測定装置。
IPC (1件)：
G01N 21/35
FI (1件)：
G01N21/35 Z
Fターム (16件)：
2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG00 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059KK01 ,  2G059KK10 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM12
引用特許：
審査官引用 (10件)
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