特許
J-GLOBAL ID：201003098375580132
パターン検出器の学習装置、学習方法及びプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
, 下山 治
, 永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-171229
公開番号（公開出願番号）：特開2010-009517
出願日： 2008年06月30日
公開日（公表日）： 2010年01月14日
要約：
【課題】 高い検出性能のパターン検出器を現実的な学習時間で構築できるようにしたパターン検出器の学習装置、学習方法及びプログラムを提供する。【解決手段】 複数の弱判別器から構成され、複数の弱判別器による判別により入力データから特定パターンを検出するパターン検出器の学習装置であって、特定パターンを含むか否かが既知であるデータから構成される複数の学習用データに基づいて弱判別器の基礎となる弱判別器モデルを生成し、当該生成された弱判別器モデルを元にして生成された弱判別器が所定の性能を満たすまで該弱判別器の状態パラメータを更新し、当該更新された各段階における弱判別器の状態パラメータの更新履歴を管理する。そして、弱判別器の状態パラメータの更新に際して、弱判別器の性能評価結果に基づいて更新履歴から弱判別器の更新対象となる段階の状態パラメータを選択する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の弱判別器から構成され、該複数の弱判別器による判別により入力データから特定パターンを検出するパターン検出器の学習装置であって、
前記特定パターンを含むか否かが既知であるデータから構成される複数の学習用データに基づいて弱判別器の基礎となる弱判別器モデルを生成するモデル生成手段と、
前記モデル生成手段により生成された弱判別器モデルを元にして生成された弱判別器が所定の性能を満たすまで該弱判別器の状態パラメータを更新する更新手段と、
前記更新手段により更新された各段階における前記弱判別器の状態パラメータの更新履歴を管理する管理手段と
を具備し、
前記更新手段は、
前記弱判別器の状態パラメータの更新に際して、該弱判別器の性能評価結果に基づいて前記管理手段により管理された更新履歴から該弱判別器の更新対象となる段階の状態パラメータを選択する
ことを特徴とするパターン検出器の学習装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06N3/00 560A
, G06T7/00 350B
5L096FA31
, 5L096HA08
, 5L096JA22
, 5L096KA04
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (8件)
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