特許
J-GLOBAL ID:201103090615393595

III族窒化物膜の製造方法、III族窒化物膜製造用サファイア単結晶基板、及びエピタキシャル成長用基板

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 杉村 憲司 ,  杉村 興作 ,  来間 清志 ,  藤谷 史朗 ,  澤田 達也 ,  箱守 英史
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-177115
公開番号(公開出願番号):特開2002-367917
特許番号:特許第4260380号
出願日: 2001年06月12日
公開日(公表日): 2002年12月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】 サファイア単結晶基板上に、転位密度が、1010/cm2以下であるAlNからなるIII族窒化物膜を製造する方法であって、 前記III族窒化物膜は、1100°C以上の温度で形成し、 前記サファイア単結晶基板はC面を主面とするサファイア単結晶基板であって、 前記サファイア単結晶基板の表面から10Åの深さにおける窒素含有量が2原子%〜50原子%である表面窒化層を形成した後、前記サファイア単結晶基板上に、前記表面窒化層を介して前記III族窒化物膜を形成することを特徴とする、III族窒化物膜の製造方法。
IPC (1件):
H01L 21/205 ( 200 6.01)
FI (1件):
H01L 21/205
引用特許:
審査官引用 (8件)
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