信号処理装置、及び走査式測距装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：橋本薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-083540
公開番号（公開出願番号）：特開2011-215005
出願日： 2010年03月31日
公開日（公表日）： 2011年10月27日
要約：

【課題】走査式測距装置と被測定物との間に障害物が存在する場合であっても、被測定物に対する距離を正確に算出可能な走査式測距装置を提供する。【解決手段】走査部で周期的に偏向走査されたパルス状の測定光に対応して、受光部で検出された被測定物からの反射光に対応する反射信号を微分する微分処理部と、一次微分された一次微分反射信号の立上り時期を基準に当該一次微分反射信号の重心位置を算出し、当該重心位置に対応する時期を反射光の検出時期として求め、測定光の出力時期と当該反射光の検出時期との時間差に基づいて被測定物までの距離を算出して出力する演算部と、微分処理部により反射信号が一次微分された一次微分反射信号の立上り及び立下り特性と、反射信号が二次微分された二次微分反射信号の立上り特性に基づいて、反射光が複数の被測定物からの反射光が重畳した反射光であるか否かを判定する波形判定部を備えている。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

パルス状の測定光を光学窓を介して測定対象空間に出力する投光部と、前記測定対象空間に存在する被測定物からの反射光を検出して対応する反射信号を出力する受光部とを備えた測距装置に対して、前記測距装置から出力された信号を処理する信号処理装置であって、前記受光部から出力された反射信号を微分する微分処理部と、前記微分処理部により前記反射信号が一次微分された一次微分反射信号の立上り及び立下り特性と、前記反射信号が二次微分された二次微分反射信号の立上り特性に基づいて、前記反射光が複数の被測定物からの反射光が重畳した反射光であるか否かを判定する波形判定部と、前記波形判定部による判定結果に応じて、前記反射信号に基づいて前記被測定物までの距離を算出して出力する演算部と、を備えている信号処理装置。

IPC (2件)：

G01S 17/10 , G01C 3/06

FI (3件)：

G01S17/10 , G01C3/06 120Q , G01C3/06 140

Fターム (43件)：

2F112AD01 , 2F112CA12 , 2F112DA04 , 2F112DA09 , 2F112DA15 , 2F112DA19 , 2F112DA25 , 2F112EA05 , 2F112FA07 , 2F112FA14 , 2F112FA19 , 2F112FA27 , 2F112FA29 , 2F112FA41 , 2F112GA01 , 5J084AA04 , 5J084AA05 , 5J084AD01 , 5J084BA04 , 5J084BA36 , 5J084BA50 , 5J084BB02 , 5J084BB04 , 5J084BB28 , 5J084CA03 , 5J084CA23 , 5J084CA27 , 5J084CA32 , 5J084CA43 , 5J084CA44 , 5J084CA45 , 5J084CA49 , 5J084CA53 , 5J084CA62 , 5J084CA70 , 5J084DA01 , 5J084DA02 , 5J084DA07 , 5J084DA08 , 5J084DA09 , 5J084EA01 , 5J084EA11 , 5J084FA01

引用特許：

審査官引用 (8件)

走査式測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-247010 出願人：北陽電機株式会社
特開昭60-156567
測定信号のノイズ除去方法
公報種別：公表公報出願番号：特願2004-528293 出願人：ローベルトボツシユゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング

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