特許
J-GLOBAL ID:201203013697125391

半導体基板、半導体装置および半導体基板の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 龍華国際特許業務法人 ,  林 茂則
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-042591
公開番号(公開出願番号):特開2012-199524
出願日: 2012年02月28日
公開日(公表日): 2012年10月18日
要約:
【課題】十分な感度を有したp型キャリアのホール素子の製造に適した半導体基板を提供する。【解決手段】表面の全部または一部がシリコン結晶面であるベース基板と、前記ベース基板の上に位置し、前記シリコン結晶面に達する開口を有し、結晶の成長を阻害する阻害体と、前記開口の底部の前記シリコン結晶面の上に位置する第1結晶層と、前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第1金属層と、前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第2金属層と、を有し、前記一対の第1金属層のそれぞれを結ぶ第1最短線と、前記一対の第2金属層のそれぞれを結ぶ第2最短線とが、交わる関係、または、ねじれの位置関係にある半導体基板を提供する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
表面の全部または一部がシリコン結晶面であるベース基板と、 前記ベース基板の上に位置し、前記シリコン結晶面に達する開口を有し、結晶の成長を阻害する阻害体と、 前記開口の底部の前記シリコン結晶面の上に位置する第1結晶層と、 前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第1金属層と、 前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第2金属層と、を有し、 前記一対の第1金属層のそれぞれを結ぶ第1最短線と、前記一対の第2金属層のそれぞれを結ぶ第2最短線とが、交わる関係、または、ねじれの位置関係にある 半導体基板。
IPC (9件):
H01L 43/06 ,  H01L 21/338 ,  H01L 29/812 ,  H01L 29/778 ,  H01L 29/737 ,  H01L 21/331 ,  H01L 21/823 ,  H01L 27/06 ,  H01L 27/092
FI (5件):
H01L43/06 D ,  H01L29/80 H ,  H01L29/72 H ,  H01L27/06 102A ,  H01L27/08 321C
Fターム (38件):
5F003BA92 ,  5F003BE04 ,  5F003BE90 ,  5F003BF06 ,  5F003BJ20 ,  5F003BM01 ,  5F003BM02 ,  5F003BM03 ,  5F003BZ02 ,  5F003BZ03 ,  5F048AC03 ,  5F048AC10 ,  5F048BA02 ,  5F048BA14 ,  5F048BA19 ,  5F092AA01 ,  5F092AB01 ,  5F092AC02 ,  5F092BA04 ,  5F092BA06 ,  5F092BA07 ,  5F092BA08 ,  5F092BA12 ,  5F092BA13 ,  5F092BA19 ,  5F092BA23 ,  5F092BA35 ,  5F092BA37 ,  5F092CA03 ,  5F102GA17 ,  5F102GB01 ,  5F102GC01 ,  5F102GD01 ,  5F102GJ03 ,  5F102GK02 ,  5F102GL05 ,  5F102GM06 ,  5F102GQ01
引用特許:
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る