特許
J-GLOBAL ID:201203013697125391
半導体基板、半導体装置および半導体基板の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
龍華国際特許業務法人
, 林 茂則
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-042591
公開番号(公開出願番号):特開2012-199524
出願日: 2012年02月28日
公開日(公表日): 2012年10月18日
要約:
【課題】十分な感度を有したp型キャリアのホール素子の製造に適した半導体基板を提供する。【解決手段】表面の全部または一部がシリコン結晶面であるベース基板と、前記ベース基板の上に位置し、前記シリコン結晶面に達する開口を有し、結晶の成長を阻害する阻害体と、前記開口の底部の前記シリコン結晶面の上に位置する第1結晶層と、前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第1金属層と、前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第2金属層と、を有し、前記一対の第1金属層のそれぞれを結ぶ第1最短線と、前記一対の第2金属層のそれぞれを結ぶ第2最短線とが、交わる関係、または、ねじれの位置関係にある半導体基板を提供する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
表面の全部または一部がシリコン結晶面であるベース基板と、
前記ベース基板の上に位置し、前記シリコン結晶面に達する開口を有し、結晶の成長を阻害する阻害体と、
前記開口の底部の前記シリコン結晶面の上に位置する第1結晶層と、
前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第1金属層と、
前記第1結晶層の上に位置し、互いに離して配置した一対の第2金属層と、を有し、
前記一対の第1金属層のそれぞれを結ぶ第1最短線と、前記一対の第2金属層のそれぞれを結ぶ第2最短線とが、交わる関係、または、ねじれの位置関係にある
半導体基板。
IPC (9件):
H01L 43/06
, H01L 21/338
, H01L 29/812
, H01L 29/778
, H01L 29/737
, H01L 21/331
, H01L 21/823
, H01L 27/06
, H01L 27/092
FI (5件):
H01L43/06 D
, H01L29/80 H
, H01L29/72 H
, H01L27/06 102A
, H01L27/08 321C
Fターム (38件):
5F003BA92
, 5F003BE04
, 5F003BE90
, 5F003BF06
, 5F003BJ20
, 5F003BM01
, 5F003BM02
, 5F003BM03
, 5F003BZ02
, 5F003BZ03
, 5F048AC03
, 5F048AC10
, 5F048BA02
, 5F048BA14
, 5F048BA19
, 5F092AA01
, 5F092AB01
, 5F092AC02
, 5F092BA04
, 5F092BA06
, 5F092BA07
, 5F092BA08
, 5F092BA12
, 5F092BA13
, 5F092BA19
, 5F092BA23
, 5F092BA35
, 5F092BA37
, 5F092CA03
, 5F102GA17
, 5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD01
, 5F102GJ03
, 5F102GK02
, 5F102GL05
, 5F102GM06
, 5F102GQ01
引用特許:
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