塗膜下鋼材腐食の検出方法、検出装置及び検出プログラム

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：村瀬一美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-192043
公開番号（公開出願番号）：特開2013-053916
出願日： 2011年09月02日
公開日（公表日）： 2013年03月21日
要約：

【課題】塗膜下における鋼材の腐食部分の体積を非破壊で測定することができるようにする。【解決手段】周波数が100〔GHz〕〜10〔THz〕の範囲の電磁波を用いて被検査物の塗膜層表面の2次元的な計測位置毎に塗膜層を介在させて電磁波測定を行って反射強度の2次元分布計測値を得て、当該2次元分布計測値における計測位置毎の反射光電界を用いて〔ア〕照射光電界反射係数lを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数kを求めるか若しくは〔イ〕電界減衰率mを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数kを求め(S5)、当該侵入光電界反射係数kを用いて計測位置毎に被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食層の厚さdRを求め(S6)、当該腐食層の厚さdRを用いて被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食部分の体積Vを求める(S7)ようにした。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

周波数が100〔GHz〕〜10〔THz〕の範囲の電磁波を用いて被検査物の塗膜層表面の2次元的な計測位置毎に前記塗膜層を介在させて電磁波測定を行って反射強度の2次元分布計測値を得て、〔ア〕当該2次元分布計測値における前記計測位置毎の反射光電界の総計を照射光電界で除して前記計測位置毎に照射光電界反射係数lを求めると共に当該照射光電界反射係数lを用いて数式1

IPC (2件)：

G01B 15/02 , G01N 21/35

FI (2件)：

G01B15/02 C , G01N21/35 Z

Fターム (36件)：

2F067AA28 , 2F067AA58 , 2F067BB01 , 2F067BB16 , 2F067CC05 , 2F067DD02 , 2F067DD08 , 2F067HH01 , 2F067JJ01 , 2F067KK06 , 2F067KK08 , 2F067MM00 , 2F067RR02 , 2F067RR24 , 2F067RR25 , 2F067RR27 , 2F067RR29 , 2F067RR31 , 2F067RR44 , 2G050AA01 , 2G050AA02 , 2G050AA04 , 2G050EB07 , 2G050EC01 , 2G050EC05 , 2G059AA10 , 2G059BB08 , 2G059EE02 , 2G059FF01 , 2G059GG01 , 2G059GG08 , 2G059HH01 , 2G059JJ22 , 2G059MM01 , 2G059MM10 , 2G059PP04

引用特許：

審査官引用 (6件)

多層薄膜の膜厚測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-098969 出願人：ソナック株式会社
光吸収係数測定方法及び光吸収係数測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-173389 出願人：ソニー株式会社
薄膜の膜厚評価方法および膜厚評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-115670 出願人：凸版印刷株式会社

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