特許
J-GLOBAL ID：201303053257686080

三次元計測装置

発明者：
間宮 高弘

間宮 高弘 について

, 
石垣 裕之

石垣 裕之 について


出願人/特許権者：
CKD株式会社

CKD株式会社 について


代理人 (1件)： 川口 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-014793
公開番号（公開出願番号）：特開2013-156045
出願日： 2012年01月27日
公開日（公表日）： 2013年08月15日
要約：
【課題】三次元計測を行うにあたり、計測精度の向上等を図ることのできる三次元計測装置を提供する。【解決手段】基板検査装置10は、プリント基板1を搬送するコンベア13と、プリント基板1に対し輝度の異なる4種類のパターン光のうちのいずれかを照射する照明装置14と、当該パターン光の照射されたプリント基板1を撮像するカメラ15とを備えている。そして、プリント基板1が所定量搬送される毎に、所定量ずつ位相の変化した同一輝度のパターン光の下で撮像される4通りの画像データを1組として、前記4種類のパターン光の下で撮像された4組のグループデータを取得する。次に画像データの各画素の輝度値が予め設定した有効範囲H内に含まれているか否かを判定すると共に、4つのグループデータの中から、画像データの各画素の輝度値が有効範囲H内にあるグループデータを抽出し、当該抽出されたグループデータを基に三次元計測を行う。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
連続搬送される被計測物に対し、当該被計測物の搬送方向に沿って縞状の光強度分布を有しかつ輝度の異なる複数種類のパターン光を切換えて照射可能な照射手段と、 前記各種パターン光の照射された前記被計測物からの反射光を撮像し、少なくとも輝度値を含む画像データを出力する撮像手段と、 前記被計測物が所定量搬送される毎に、所定量ずつ位相の変化した同一輝度のパターン光の下で撮像される複数通りの画像データを1組として、前記複数種類のパターン光の下で撮像された複数の画像データ組を取得する画像データ取得手段と、 前記被計測物上の各座標位置に対応する前記画像データの各画素の輝度値が予め設定した有効範囲内に含まれているか否かを判定する判定手段と、 前記被計測物の各座標位置毎に、前記複数の画像データ組の中から、前記画像データの各画素の輝度値が前記有効範囲内にある画像データ組を抽出する抽出手段と、 前記抽出された画像データ組を基に、前記被計測物の各座標位置に係る三次元計測を行う三次元計測手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。
IPC (2件)：
G01B 11/25 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
G01B11/25 H ,  G06T1/00 305C
Fターム (30件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB15 ,  2F065CC26 ,  2F065CC28 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF06 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065FF10 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065LL53 ,  2F065PP15 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057CA08 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB16 ,  5B057DA07
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (2件)

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