特許
J-GLOBAL ID：201303092731039836

計測点抽出プログラム、計測点抽出方法及び計測点抽出装置

発明者：
大坪 和幸

大坪 和幸 について


出願人/特許権者：
株式会社パスコ

株式会社パスコ について


代理人 (1件)： 特許業務法人信友国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-033555
公開番号（公開出願番号）：特開2013-170860
出願日： 2012年02月20日
公開日（公表日）： 2013年09月02日
要約：
【課題】反射レーザ光の波形記録データから波形ピーク計測点を効率的に生成する。【解決手段】レーザ測距装置から地表に向けて発射したレーザ光の反射レーザ光の波形を反映した情報を含む波形記録データから、波形10の振幅値が上がり続けて下がるまでの区間を検出し、当該波形10の振幅値のその区間における最小値から最大値11〜14までの線分21〜24の長さ(延長)を算出し、これらが設定されたしきい値以上であるとき、最大値11〜14とそのときの往復時間を波形ピーク計測点として抽出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
レーザ測距装置から地表に向けて発射したレーザ光の反射レーザ光の波形を反映した情報を含む波形記録データから、前記波形の振幅値が上がり続けて下がるまでの区間を検出する手順と、 前記波形の振幅値の前記区間における最小値から最大値までの延長を算出する手順と、 前記延長が予め設定されたしきい値以上であるとき、前記最大値とそのときの往復時間を波形ピーク計測点として抽出する手順を、 コンピュータに実行させるための計測点抽出プログラム。
IPC (3件)：
G01S 17/42 ,  G01S 17/89 ,  G01C 3/06
FI (4件)：
G01S17/42 ,  G01S17/89 ,  G01C3/06 120Q ,  G01C3/06 140
Fターム (30件)：
2F112AD01 ,  2F112BA03 ,  2F112BA06 ,  2F112BA07 ,  2F112CA12 ,  2F112DA15 ,  2F112DA25 ,  2F112FA03 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  2F112GA01 ,  5J084AA13 ,  5J084AB07 ,  5J084AB16 ,  5J084AC04 ,  5J084AD01 ,  5J084BA03 ,  5J084BA48 ,  5J084CA23 ,  5J084CA31 ,  5J084CA34 ,  5J084CA65 ,  5J084CA70 ,  5J084DA01 ,  5J084DA08 ,  5J084DA09 ,  5J084EA01 ,  5J084EA04 ,  5J084EA05 ,  5J084FA01
引用特許：
審査官引用 (6件)
  • 信号処理装置、及び走査式測距装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-083540   出願人：北陽電機株式会社
  • レーダ装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-145422   出願人：三菱電機株式会社
  • レーダ装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-184806   出願人：株式会社デンソー
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