特許
J-GLOBAL ID:201503017416371965

基板、基板の製造方法、及び電子装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 片山 修平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-124109
公開番号(公開出願番号):特開2014-240340
出願日: 2013年06月12日
公開日(公表日): 2014年12月25日
要約:
【課題】膜質の良好なグラフェン層を有する基板、基板の製造方法、及び電子装置を提供すること。【解決手段】本発明は、シリコン基板10上に、炭化シリコン層14を形成する工程と、炭化シリコン層14の上面のRMS粗さが12nm以下となるように、炭化シリコン層14の上面を平坦化する工程と、平坦化の工程を行った後、炭化シリコン層14の上面にグラフェン層16を形成する工程と、を備える基板の製造方法である。これによれば、例えばD/Gの値が1.0以下のような、良好な膜質のグラフェン層を得ることができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
シリコン基板上に、炭化シリコン層を形成する工程と、 前記炭化シリコン層の上面のRMS粗さが12nm以下となるように、前記炭化シリコン層の上面を平坦化する工程と、 前記平坦化の工程を行った後、前記炭化シリコン層の上面にグラフェン層を形成する工程と、を備えることを特徴とする基板の製造方法。
IPC (7件):
C01B 31/02 ,  C01B 31/36 ,  H01L 21/336 ,  H01L 29/78 ,  H01L 51/05 ,  H01L 51/30 ,  H01L 21/205
FI (6件):
C01B31/02 101Z ,  C01B31/36 601J ,  H01L29/78 301B ,  H01L29/28 100A ,  H01L29/28 250E ,  H01L21/205
Fターム (57件):
4G146AA01 ,  4G146AB07 ,  4G146AC16A ,  4G146AC16B ,  4G146AD22 ,  4G146AD23 ,  4G146AD30 ,  4G146BA08 ,  4G146BB02 ,  4G146BB23 ,  4G146BC02 ,  4G146BC27 ,  4G146BC34B ,  4G146MA14 ,  4G146MB03 ,  4G146MB16B ,  4G146MB23 ,  4G146MB27 ,  4G146NA11 ,  4G146NB04 ,  4G146NB15 ,  4G146NB18 ,  4G146NB19 ,  4G146PA08 ,  5F045AA20 ,  5F045AB06 ,  5F045AB07 ,  5F045AD16 ,  5F045AF03 ,  5F045DA53 ,  5F140AA00 ,  5F140AA01 ,  5F140AA24 ,  5F140BA01 ,  5F140BA02 ,  5F140BA06 ,  5F140BA09 ,  5F140BA17 ,  5F140BA20 ,  5F140BC12 ,  5F140BC17 ,  5F140BC19 ,  5F140BD01 ,  5F140BD05 ,  5F140BD11 ,  5F140BE07 ,  5F140BE09 ,  5F140BE10 ,  5F140BF07 ,  5F140BF11 ,  5F140BF15 ,  5F140BG30 ,  5F140BJ01 ,  5F140BJ05 ,  5F140BK29 ,  5F140CE05 ,  5F140CE07
引用特許:
審査官引用 (1件)
引用文献:
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