特許
J-GLOBAL ID:201503017416371965
基板、基板の製造方法、及び電子装置
発明者:
,
,
,
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
片山 修平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-124109
公開番号(公開出願番号):特開2014-240340
出願日: 2013年06月12日
公開日(公表日): 2014年12月25日
要約:
【課題】膜質の良好なグラフェン層を有する基板、基板の製造方法、及び電子装置を提供すること。【解決手段】本発明は、シリコン基板10上に、炭化シリコン層14を形成する工程と、炭化シリコン層14の上面のRMS粗さが12nm以下となるように、炭化シリコン層14の上面を平坦化する工程と、平坦化の工程を行った後、炭化シリコン層14の上面にグラフェン層16を形成する工程と、を備える基板の製造方法である。これによれば、例えばD/Gの値が1.0以下のような、良好な膜質のグラフェン層を得ることができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
シリコン基板上に、炭化シリコン層を形成する工程と、
前記炭化シリコン層の上面のRMS粗さが12nm以下となるように、前記炭化シリコン層の上面を平坦化する工程と、
前記平坦化の工程を行った後、前記炭化シリコン層の上面にグラフェン層を形成する工程と、を備えることを特徴とする基板の製造方法。
IPC (7件):
C01B 31/02
, C01B 31/36
, H01L 21/336
, H01L 29/78
, H01L 51/05
, H01L 51/30
, H01L 21/205
FI (6件):
C01B31/02 101Z
, C01B31/36 601J
, H01L29/78 301B
, H01L29/28 100A
, H01L29/28 250E
, H01L21/205
Fターム (57件):
4G146AA01
, 4G146AB07
, 4G146AC16A
, 4G146AC16B
, 4G146AD22
, 4G146AD23
, 4G146AD30
, 4G146BA08
, 4G146BB02
, 4G146BB23
, 4G146BC02
, 4G146BC27
, 4G146BC34B
, 4G146MA14
, 4G146MB03
, 4G146MB16B
, 4G146MB23
, 4G146MB27
, 4G146NA11
, 4G146NB04
, 4G146NB15
, 4G146NB18
, 4G146NB19
, 4G146PA08
, 5F045AA20
, 5F045AB06
, 5F045AB07
, 5F045AD16
, 5F045AF03
, 5F045DA53
, 5F140AA00
, 5F140AA01
, 5F140AA24
, 5F140BA01
, 5F140BA02
, 5F140BA06
, 5F140BA09
, 5F140BA17
, 5F140BA20
, 5F140BC12
, 5F140BC17
, 5F140BC19
, 5F140BD01
, 5F140BD05
, 5F140BD11
, 5F140BE07
, 5F140BE09
, 5F140BE10
, 5F140BF07
, 5F140BF11
, 5F140BF15
, 5F140BG30
, 5F140BJ01
, 5F140BJ05
, 5F140BK29
, 5F140CE05
, 5F140CE07
引用特許:
引用文献:
前のページに戻る