特許
J-GLOBAL ID:201503071199463958
異種基板を有するIII族窒化物デバイスに適するバッファ層構造
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
平木 祐輔
, 関谷 三男
, 渡辺 敏章
, 松丸 秀和
, 今村 健一
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-555787
公開番号(公開出願番号):特表2015-512148
出願日: 2013年02月01日
公開日(公表日): 2015年04月23日
要約:
本発明の実施形態は、異種基板を有するIII-Nデバイスに適合するバッファ構造を含む。バッファ構造は、第1のアルミニウム組成を有する第1のバッファ層と、第1のバッファ層上に形成され、第2のアルミニウム組成を有する第2のバッファ層とを備える。バッファ構造は、更に、第2の界面において第2のバッファ層上に形成され、第3のアルミニウム組成を有する第3のバッファ層を備える。第1のアルミニウム組成は、第1のバッファ層内で界面に向かって減少し、第2のアルミニウム組成は、第2のバッファ層に亘って、界面における第1のアルミニウム組成より高い。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
III-N層構造体を形成する方法において、
第1の材料層上に、第1のアルミニウム組成を有し、前記第1の材料層に隣接する第1の側と、前記第1の側の反対側の第2の側とを有する第1のIII-Nバッファ層を形成するステップと、
前記第1のIII-Nバッファ層の第2の側に、第2のアルミニウム組成を有し、15nmより厚い第2のIII-Nバッファ層を形成するステップとを有し、
前記第1のアルミニウム組成は、前記第1のIII-Nバッファ層に亘って実質的に一定であり、又は前記第1の側から前記第2の側に向かって減少し、
前記第2のIII-Nバッファ層に亘る前記第2のアルミニウム組成は、前記第1のIII-Nバッファ層の第2の側における前記第1のアルミニウム組成より高い方法。
IPC (7件):
H01L 21/20
, H01L 21/338
, H01L 29/778
, H01L 29/812
, H01L 33/12
, H01L 33/32
, H01L 21/205
FI (5件):
H01L21/20
, H01L29/80 H
, H01L33/00 140
, H01L33/00 186
, H01L21/205
Fターム (43件):
5F045AA03
, 5F045AA04
, 5F045AB09
, 5F045AB14
, 5F045AB17
, 5F045AB18
, 5F045AF04
, 5F045AF05
, 5F045BB05
, 5F045BB12
, 5F045BB16
, 5F045CA07
, 5F045CA09
, 5F045CA10
, 5F045DA53
, 5F045DA54
, 5F045DA57
, 5F045DA58
, 5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GJ02
, 5F102GK08
, 5F102GL04
, 5F102GM04
, 5F102GQ01
, 5F102GR07
, 5F102GR12
, 5F141AA40
, 5F141CA40
, 5F152LN03
, 5F152LN13
, 5F152LN19
, 5F152MM02
, 5F152MM03
, 5F152MM05
, 5F152MM09
, 5F152MM10
, 5F152MM13
, 5F152NN03
, 5F152NN05
, 5F152NN13
, 5F152NP09
, 5F152NQ09
引用特許:
出願人引用 (10件)
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半導体電子デバイス
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-000802
出願人:古河電気工業株式会社
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半導体材料、半導体材料の製造方法及び半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-337167
出願人:DOWAエレクトロニクス株式会社, 国立大学法人名古屋工業大学
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化合物半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-023953
出願人:富士通株式会社
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化合物半導体素子及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-022685
出願人:信越半導体株式会社
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窒化物半導体厚膜基板
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-080155
出願人:シャープ株式会社
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化合物半導体基板
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-153634
出願人:コバレントマテリアル株式会社
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半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-041426
出願人:古河電気工業株式会社
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化合物半導体基板
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-076840
出願人:コバレントマテリアル株式会社
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半導体電子デバイス
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-140649
出願人:古河電気工業株式会社
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特許第6586777号
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審査官引用 (10件)
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半導体電子デバイス
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-000802
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化合物半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
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