特許
J-GLOBAL ID：201603016637160723

自動分析装置

発明者：
和田 健太郎

和田 健太郎 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (3件)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-016043
公開番号（公開出願番号）：特開2013-156105
特許番号：特許第6033550号
出願日： 2012年01月30日
公開日（公表日）： 2013年08月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料を収容したサンプル容器を分析装置に投入するサンプル容器の投入部と、 試料をサンプル吸引位置で吸引し、サンプル反応ディスクに分注する分注機構と、 該投入部と該サンプル吸引位置間でサンプル容器を搬送するメインラインと、 前記メインラインに沿って配置されたサンプル容器を搬送するサブラインと、 該投入部から投入されたサンプル容器内の異物有無を判定する第1異物判定手段と、 前記サブラインで搬送されるサンプル容器内の異物を除去する異物除去機構と、 前記異物除去機構により異物除去をした後であって、前記サブラインから前記メインラインにサンプル容器を移動する前に、再度サンプル容器内の異物有無を判定する第2異物判定手段と、 前記メインライン、前記サブライン、前記異物除去機構を制御する制御部と、を備え、 前記制御部は、前記第1異物判定手段によりサンプル容器内に異物ありと判定したサンプル容器を、前記メインラインから前記サブラインに移動し、前記異物除去機構により異物除去をした後、前記サブラインから前記メインラインに移載し、該サンプル吸引位置に搬送する制御を行い、 前記制御部は、前記第2異物判定手段によりサンプル容器内に異物なしと判定したサンプル容器を、前記メインラインに移動する制御を行うことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N 35/00 ( 200 6.01) ,  G01N 35/02 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01N 35/00 Z ,  G01N 35/02 G
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (9件)
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