特許
J-GLOBAL ID：201703000265295329
自動分析装置及びその分注性能確認方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
蔵田 昌俊
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 河野 直樹
, 井上 正
, 鵜飼 健
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-175976
公開番号（公開出願番号）：特開2015-045535
特許番号：特許第6165555号
出願日： 2013年08月27日
公開日（公表日）： 2015年03月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の反応容器、試料容器に収容された試料を前記反応容器に分注するサンプル分注プローブ、試薬容器に収容された試薬を前記反応容器に分注する試薬分注プローブ、及び前記反応容器に分注された試料及び試薬の混合液を測定する測定部を備えた自動分析装置において、
前記試薬容器に収容された試薬を確認用試薬として前記試薬分注プローブにより前記反応容器に分注させ、前記反応容器に分注された確認用試薬を前記サンプル分注プローブにより当該反応容器以外の反応容器に分注させ、前記サンプル分注プローブにより確認用試薬が分注された前記反応容器に前記試薬分注プローブ又は前記サンプル分注プローブから希釈液を吐出させ、前記反応容器内の確認用試薬が前記希釈液で希釈された希釈試薬を前記測定部により測定させて生成される複数の確認用データからばらつきを示す値を求め、前記値が予め設定された許容範囲内である場合に前記試料の分注が正常に行われていると判定し、前記値が前記許容範囲から外れている場合に前記サンプル分注プローブによる前記試料の分注性能が低下していると判定する性能確認部を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N 35/00 ( 200 6.01)
, G01N 35/10 ( 200 6.01)
G01N 35/00 F
, G01N 35/10 A
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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