特許
J-GLOBAL ID:201803020445079533

表面特徴マッピング

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人深見特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-511681
特許番号:特許第6289450号
出願日: 2013年05月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】 装置であって、 物品の表面上に光子を放射するように構成される光子エミッタと、 前記物品の前記表面における特徴から散乱した光子を受け取るように構成される複数の光子検出器を含む光子検出器アレイとを含み、 前記光子エミッタは、前記光子検出器アレイを用いて前記物品の前記表面における前記特徴から散乱した前記光子を検出する間、振動を生じさせないように構成されたフラッシュランプであり、 前記物品の前記表面における前記特徴をマッピングするためのマッピング手段をさらに含み、 前記装置は、前記複数の光子検出器にて受け取られた前記散乱した光子を分析することにより、前記物品の前記表面における前記特徴を特徴決定するように構成される、装置。
IPC (1件):
G01N 21/95 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 21/95 A
引用特許:
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (10件)
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