特許
J-GLOBAL ID：201903020406000668
光干渉断層画像撮像装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
保立 浩一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-167960
公開番号（公開出願番号）：特開2019-045271
出願日： 2017年08月31日
公開日（公表日）： 2019年03月22日
要約：
【課題】 観察の自由度の高い光干渉断層画像撮像装置を提供する。【解決手段】 スーパーコンティニウム光である光源部11からの光は、帯域分離ユニット5により複数の波長帯域に分離され、ビームスプリッタ21により測定光と参照光とに分割される。測定光が照射された非観察部位Rからの反射光は、参照ミラー22で折り返される参照光と干渉し、干渉光の強度が検出器31〜34で検出される。一又は複数の任意の波長帯域が帯域遮断シャッタ391〜394により選択され、選択された帯域の干渉光強度のデータを演算処理部4が処理し、断層画像I1〜I4が取得される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
400nm以上3000nm以下の波長範囲において200nm以上の波長帯域に亘って連続スペクトルである光を出射する光源部と、
光源部から出射される光を、測定光と参照光とに分割するとともに、測定光を被観察部位に照射し、当該被観察部位からの反射光と参照光との干渉光を発生させる光学系と、
反射光と参照光との干渉光の強度を検出する検出部と、
検出部で検出された干渉光の強度に基づいて、被観察部位の断層画像を取得する演算処理部と、
光源部が出射する光の帯域から、200nm未満の幅の少なくとも一つの任意の波長帯域を選択する帯域選択部と
を備えており、
検出部は、選択された少なくとも一つの任意の波長帯域において干渉光の強度を検出するものであり、
演算処理部は、少なくとも一つの任意の波長帯域において検出された干渉光の強度に基づいて被観察部位の断層画像を取得することが可能となっていることを特徴とする光干渉断層画像撮像装置。
IPC (3件)：
G01N 21/17
, A61B 18/22
, A61B 3/10
G01N21/17 630
, A61B18/22
, A61B3/10 R
2G059AA05
, 2G059EE10
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ07
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 4C026BB10
, 4C026FF17
, 4C026FF34
, 4C026GG06
, 4C316AA09
, 4C316AB02
, 4C316AB11
, 4C316FB13
, 4C316FC12
, 4C316FY03
, 4C316FY05
, 4C316FY08
, 4C316FZ02
, 4C316FZ03
