特許
J-GLOBAL ID：201503010138282618
光断層画像撮像装置および光断層画像撮像装置を用いたヒト肌の計測方法
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-124299
公開番号（公開出願番号）：特開2015-163862
出願日： 2014年06月17日
公開日（公表日）： 2015年09月10日
要約：
【課題】ヒト肌について、可視光域の任意の波長域の光を用いた光断層画像を取得可能な光断層画像撮像装置とその装置を用いたヒト肌の計測方法を提供する。【解決手段】光断層画像撮像装置1を、400nm〜800nmに亘る波長域を少なくとも含む光を射出する単一の光源11および、光源11から射出された光から可視域の任意の波長域を切り出してスペクトル成形をするスペクトル成形部12を有し、スペクトル成形された低コヒーレント光L0を射出する光源部10と、低コヒーレント光L0を測定光L1と参照光L2とに分割する光分割部3と、測定光L1を測定対象にライン状に照射する照射光学系20と、測定光L1が測定対象Sに照射されたときの測定対象からの反射光L3と参照光L2とを重ね合わせる合波部4と、干渉光L4を分光検出する干渉光検出部30と、検出された干渉光を周波数解析することにより測定対象の二次元光断層画像を取得する断層画像取得部40とを備えたものとする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
400nm〜800nmに亘る波長域を少なくとも含む光を射出する単一の光源、および該光源から射出された光から可視域の任意の波長域を切り出して単一もしくは複数ピークをもつスペクトルに成形するスペクトル成形部を有し、該スペクトル成形された低コヒーレント光を射出する光源部と、
該光源部から射出された低コヒーレント光を測定光と参照光とに分割する光分割部と、
前記測定光を測定対象にライン状に照射する測定光照射光学系と、
前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを重ね合わせる合波部と、
該合波部により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を分光検出する干渉光検出部と、
該干渉光検出部により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の二次元光断層画像を取得する断層画像取得部とを有する光断層画像撮像装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/17 630
, A61B5/00 M
2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059EE17
, 2G059FF02
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ01
, 2G059JJ02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 4C117XA01
, 4C117XB01
, 4C117XE36
, 4C117XE42
