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J-GLOBAL ID:200903001384262360
X線検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
有我 軍一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005132483
Publication number (International publication number):2006308467
Application date: Apr. 28, 2005
Publication date: Nov. 09, 2006
Summary:
【課題】 物理量測定結果をそれに対応するX線画像と関連付けた測定結果の把握容易な表示を行なうことができるX線検査装置を提供する。 【解決手段】 X線源2と、X線検出部4と、データ処理部6と、表示部20とを備えたX線検査装置において、X線検出部4からの検出情報のうち一部を抽出して少なくともX線画像の背景に相当する部分を除いた物理量測定領域のX線画像をデータ処理部6のX線画像生成部11に生成させる領域抽出処理部8と、この領域抽出処理部8で抽出された検出情報に基づいてワークWの大きさ又は質量に対応する物理量を算出する質量算出部13と、物理量測定領域のX線画像と質量算出部13で算出された物理量を示すグラフ表示要素とを関連付けて表示部20に表示させる表示データ生成部15とを設ける。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被検査物(W)にX線を照射するX線源(2)と、
該被検査物の各部を透過したX線の透過量を検出するX線検出手段(4)と、
前記X線検出手段からの検出情報に基づいて前記X線の透過量に対応するX線画像を生成する画像生成手段(11)と、
前記画像生成手段で生成されたX線画像を表示する表示手段(20)と、を備えたX線検査装置において、
前記X線検出手段からの検出情報のうち一部を抽出して少なくとも前記X線画像の背景に相当する部分を除いた物理量測定領域のX線画像を前記画像生成手段に生成させる領域抽出手段(8)と、
前記領域抽出手段で抽出された検出情報に基づいて前記被検査物の大きさ又は質量に対応する物理量を算出する物理量算出手段(13)と、
前記物理量測定領域のX線画像と前記物理量算出手段で算出された前記物理量を示すグラフ表示要素(22,23,24,25,26,32,33,34,35,36,37,42,48)とを関連付けて前記表示手段に表示させる表示制御手段(15)と、を設けたことを特徴とするX線検査装置。
IPC (3):
G01B 15/00
, G01G 23/36
, G01N 23/04
FI (3):
G01B15/00 A
, G01G23/36 D
, G01N23/04
F-Term (35):
2F067AA21
, 2F067AA26
, 2F067AA27
, 2F067AA57
, 2F067AA58
, 2F067EE05
, 2F067FF08
, 2F067GG07
, 2F067HH04
, 2F067JJ03
, 2F067KK06
, 2F067LL03
, 2F067PP15
, 2F067RR35
, 2F067SS15
, 2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001DA08
, 2G001FA00
, 2G001FA01
, 2G001FA02
, 2G001FA06
, 2G001HA07
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001JA13
, 2G001JA16
, 2G001KA05
, 2G001KA20
, 2G001LA01
, 2G001PA11
, 2G001SA12
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
X線検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-335214
Applicant:株式会社イシダ, 株式会社東研
-
X線異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-325780
Applicant:アンリツ株式会社
-
実公平6-7331号公報
Cited by examiner (6)
-
X線による質量測定方法及びX線質量測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-096625
Applicant:アンリツ株式会社
-
X線検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-335214
Applicant:株式会社イシダ, 株式会社東研
-
X線異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-332885
Applicant:アンリツ株式会社
-
X線による厚さ測定方法及びX線厚さ測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-154288
Applicant:アンリツ株式会社
-
X線異物検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-173610
Applicant:株式会社中部メディカル
-
X線検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-175922
Applicant:株式会社イシダ
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