測定装置及び測定方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：吉田茂明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001203375
Publication number (International publication number)：2003014421
Application date： Jul. 04, 2001
Publication date： Jan. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】カメラの可動範囲を広く確保しつつ、大きな被写体であっても高い測定精度で適切に被写体を測定する。【解決手段】被写体30の周囲に複数の立体チャート2(2a,2b)を配置する。各立体チャート2の側面には既知の構造のチャートパターンが形成される。可動式カメラ11を用いて被写体30の周囲に配置された複数の立体チャート2を撮影し、その画像から各立体チャート2の相対的位置関係を求める。そして、被写体用カメラ(被写体撮影用カメラ)13で被写体30を撮影するのに同期して、可動式カメラ11が一つの立体チャート2(撮影対象立体チャート)を撮影する。可動式カメラ11と撮影対象立体チャートとの相対関係、可動式カメラ11と被写体用カメラ13との相対関係、及び、各立体チャートの相対的位置関係に基づいて、被写体30の三次元情報を生成する。

Claim (excerpt)：

被写体の周囲に既知の形状を有する複数の姿勢検出用基準物体が配置された状態で、前記被写体を測定する測定装置であって、基準物体測定用カメラと、前記複数の姿勢検出用基準物体を予め前記基準物体撮影用カメラで撮影した画像に基づいて、前記複数の姿勢検出用基準物体の相対的位置関係を求める第1演算手段と、前記測定装置の測定動作に同期して前記基準物体撮影用カメラの撮影が行われるように制御する制御手段と、前記基準物体撮影用カメラで撮影された測定時の前記姿勢検出用基準物体の画像に基づいて、前記測定装置の姿勢を算出する第2演算手段と、を備えることを特徴とする測定装置。

IPC (7)：

G01B 11/00 , G01B 11/26 , G06T 1/00 315 , G06T 1/00 440 , G06T 7/20 100 , H04N 5/225 , H04N 13/00

FI (7)：

G01B 11/00 H , G01B 11/26 H , G06T 1/00 315 , G06T 1/00 440 , G06T 7/20 100 , H04N 5/225 Z , H04N 13/00

F-Term (58)：

2F065AA04 , 2F065AA20 , 2F065AA37 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065BB29 , 2F065FF04 , 2F065FF28 , 2F065FF61 , 2F065FF65 , 2F065FF67 , 2F065GG08 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL06 , 2F065LL30 , 2F065NN20 , 2F065PP05 , 2F065QQ03 , 2F065QQ24 , 2F065QQ31 , 2F065QQ32 , 2F065RR10 , 5B047AA07 , 5B047BA02 , 5B047BB04 , 5B047BC16 , 5B047BC23 , 5B047CA14 , 5B047CB09 , 5B047CB22 , 5B047DC07 , 5B047DC09 , 5B057AA20 , 5B057BA11 , 5B057CA12 , 5B057CB13 , 5B057CD14 , 5B057CH01 , 5B057CH11 , 5B057DA07 , 5B057DA16 , 5B057DB03 , 5B057DC08 , 5C022AA13 , 5C022AB62 , 5C022AC27 , 5C061AA29 , 5C061AB04 , 5C061AB24 , 5L096AA09 , 5L096BA20 , 5L096CA03 , 5L096FA67 , 5L096FA69 , 5L096HA05 , 5L096LA05 , 5L096LA11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (21)

3次元モデリング装置、3次元モデリング方法および3次元モデリングプログラムを記録した媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-191868 Applicant：三洋電機株式会社
1つまたは複数の移動カメラの初期位置および向きを校正するための方法ならびに固定対象の3次元的位置測定に対してのこの方法の応用
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平11-523389 Applicant：コミツサリアタレネルジーアトミーク
特開平4-086957

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Cited by examiner (19)

3次元モデリング装置、3次元モデリング方法および3次元モデリングプログラムを記録した媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-191868 Applicant：三洋電機株式会社
測距装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-283442 Applicant：オリンパス光学工業株式会社
1つまたは複数の移動カメラの初期位置および向きを校正するための方法ならびに固定対象の3次元的位置測定に対してのこの方法の応用
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平11-523389 Applicant：コミツサリアタレネルジーアトミーク

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