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J-GLOBAL ID：200903003378342460

光導波路型SPR現象計測チップ、その製造方法およびSPR現象計測方法

Inventor：
丹羽 修

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岩崎 弦

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堀内 勉

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飛田 達也

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田部井 久男

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今村 三郎

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Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

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エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社

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Agent (1)： 雨宮 正季
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000339895
Publication number (International publication number)：2002148187
Application date： Nov. 08, 2000
Publication date： May. 22, 2002
Summary：
【要約】【課題】汎用性・生産性の高い光導波路作製技術を用いて、小型で交換の便利なSPR現象計測チップ及びその製造方法、さらにはSPR現象計測方法を提供する。【解決手段】光導波路と、前記コア9に少なくとも一部が直接接触し、かつ表面プラズモン共鳴現象を起こす金属薄膜6とを備えた光導波路型SPR現象計測チップであって、前記コアを伝播する光を計測することによって表面プラズモン共鳴現象を測定される試料が前記金属薄膜に接触するように設けたSPR現象計測装置およびその製造方法、さらにはSPR現象計測方法を特徴とする。【効果】小型で交換に便利であり、かつ複数箇所の同時測定可能なセンサや複数の試料を検出できる多チャンネルセンサなど、様々な機能を容易に付加することができる光導波路型SPR現象計測チップを提供できる。
Claim (excerpt)：
コアと前記コアの周囲に設けられたクラッドとを備え、前記コアは前記クラッドより高い屈折率を有し、前記コアに入射した光を閉じ込めて伝播する光導波路と、前記コアに少なくとも一部が直接接触し、かつ表面プラズモン共鳴現象を起こす金属薄膜とを備えた光導波路型SPR現象計測チップであって、前記コアを伝播する光を計測することによって表面プラズモン共鳴現象を測定される試料が前記金属薄膜に接触するように設けられることを特徴とする光導波路型SPR現象計測チップ。
IPC (4)：
G01N 21/27 ,  G02B 6/12 ,  G02B 6/13 ,  G01N 33/543 595
FI (5)：
G01N 21/27 C ,  G01N 33/543 595 ,  G02B 6/12 Z ,  G02B 6/12 N ,  G02B 6/12 M
F-Term (19)：
2G059AA05 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059GG00 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2H047KA03 ,  2H047KA12 ,  2H047KA15 ,  2H047KB04 ,  2H047LA12 ,  2H047NA01 ,  2H047QA05 ,  2H047RA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (26)
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