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J-GLOBAL ID：200903009410623784

光断層画像化装置および断層画像取得方法

Inventor：
小澤 聡

About 小澤 聡


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社


Agent (2)： 渡辺 望稔 ,  三和 晴子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008093712
Publication number (International publication number)：2009244207
Application date： Mar. 31, 2008
Publication date： Oct. 22, 2009
Summary：
【課題】波長掃引光源を用いるSS-OCTにおいて、測定関心領域の位置(深度)によらず、測定関心領域を高解像に測定できる光断層画像化装置およびおよび断層画像取得方法を提供する。【解決手段】参照光の光路長を調整することにより、測定深度方向の第1基準位置を測定範囲の内縁部に設定する光路長調整部と、第1基準位置に対して測定深度が所定量異なり測定範囲の外縁部となる第2基準位置を与える光路長が予め設定されており、光路長調整部によって調整された参照光の光路長または反射光の光路長を変更して、第1基準位置と第2基準位置とを切り替える光路長切替部とを有することにより、上記課題を解決する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
波長掃引光源と、 前記波長掃引光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、 前記分岐部からの前記測定光を測定対象に照射するとともに、その測定対象からの反射光を取得する測定部を、外筒に内包する光プローブと、 前記参照光の光路長を調整することにより、測定深度方向の第1基準位置を測定範囲の内縁部に設定する光路長調整部と、 前記第1基準位置に対して測定深度が所定量異なり測定範囲の外縁部となる第2基準位置を与える光路長が予め設定されており、前記光路長調整部によって調整された前記参照光の光路長または前記反射光の光路長を変更して、前記第1基準位置と前記第2基準位置とを切り替える光路長切替部と、 前記光路長調整部および前記光路長切替部を制御する制御部と、 前記光路長調整部および前記光路長切替部の下流側に配置され、前記測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波部と、 前記合波部で生成された前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部と、 前記干渉光検出部で検出された前記干渉信号から断層画像を取得する断層画像取得処理部とを有する光断層画像化装置。
IPC (2)：
G01N 21/17 ,  A61B 10/00
FI (2)：
G01N21/17 630 ,  A61B10/00 E
F-Term (18)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (7)
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