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J-GLOBAL ID：200903045626137350

光断層画像化装置

Inventor：
羽鳥 正美

About 羽鳥 正美


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社

, 
フジノン株式会社

About フジノン株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007152006
Publication number (International publication number)：2008070349
Application date： Jun. 07, 2007
Publication date： Mar. 27, 2008
Summary：
【課題】光断層画像化装置において、ファラデーローテータや偏波コントローラを用いることなく、測定環境による偏光状態の変動を防止し、良好な画質の断層画像を得る。【解決手段】光源ユニット10から光分割手段3までの光Lの導波、光分割手段3からプローブ30までの測定光L1の導波、プローブ30内の測定光L1および反射光L3の導波、プローブ30から合波手段4までの反射光L3の導波、および光分割手段4から合波手段4までの参照光L2の導波に、偏波保存ファイバを用いる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
光を射出する光源ユニットと、 前記光源ユニットから射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、 前記測定光を測定対象まで導波し、前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光を導波するプローブと、 前記反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、 前記合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、 前記干渉光検出手段により検出された前記干渉光から前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段とを備えた光断層画像化装置において、 前記光源ユニットから前記光分割手段までの前記光の導波、前記光分割手段から前記プローブまでの前記測定光の導波、前記プローブ内の前記測定光および前記反射光の導波、前記プローブから前記合波手段までの前記反射光の導波、および前記光分割手段から前記合波手段までの前記参照光の導波に、偏波保存ファイバを用いたことを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (3)：
G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  A61B 1/00
FI (3)：
G01N21/17 625 ,  A61B10/00 E ,  A61B1/00 300D
F-Term (21)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK01 ,  4C061BB08 ,  4C061HH51
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
  • 光イメージング装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-028231   Applicant：ユニバーシティーホスピタルオブクリーブランド, オリンパス光学工業株式会社
  • 光イメージング装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-056888   Applicant：ユニバーシティーホスピタルオブクリーブランド, オリンパス株式会社
  • 光走査プローブ装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-056887   Applicant：ユニバーシティーホスピタルオブクリーブランド, オリンパス株式会社
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Cited by examiner (11)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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