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J-GLOBAL ID:200903016726475589
高誘電キャパシタ誘電体を含む半導体デバイス及びその製造方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
瀬谷 徹 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000391215
Publication number (International publication number):2001237401
Application date: Dec. 22, 2000
Publication date: Aug. 31, 2001
Summary:
【要約】【課題】 キャパシタ誘電体膜として高い誘電定数(K)を有する半導体メモリデバイスを提供する。【解決手段】 メモリセルで用いる半導体デバイスにおいて、半導体基板、前記半導体基板に形成された多数のトランジスタ及び前記トランジスタに電気的に接続された導電性プラグを備える活性マトリックスと、前記導電性プラグ上に形成された多数の下部電極と、前記下部電極上に形成された合成膜と、前記合成膜上に形成されているアルミニウムオキサイド(Al2O3)膜を含むことを特徴とする。
Claim (excerpt):
メモリセルを用いる半導体デバイスにおいて、半導体基板、前記半導体基板に形成された多数のトランジスタ、前記トランジスタに電気的に接続された導電性プラグを備える活性マトリックスと、前記導電性プラグ上に形成された多数の下部電極と、前記下部電極上に形成された合成膜と、前記合成膜上に形成されているアルミニウムオキサイド(Al2O3)膜とを含むことを特徴とする高誘電キャパシタ誘電体を含む半導体デバイス。
IPC (4):
H01L 27/108
, H01L 21/8242
, C23C 16/40
, H01L 21/316
FI (5):
C23C 16/40
, H01L 21/316 X
, H01L 21/316 M
, H01L 27/10 621 C
, H01L 27/10 651
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-025618
Applicant:日本電気株式会社
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半導体デバイス用誘電体構造及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-156625
Applicant:ナショナルセミコンダクタコーポレイション
-
TiO2を添加したTa2O5を含む誘電体材料及びそれを用いるコンデンサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-153653
Applicant:エイ・ティ・アンド・ティ・アイピーエム・コーポレーション
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-127438
Applicant:株式会社東芝
-
化学的気相成長法及び化学的気相成長装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-236247
Applicant:日産自動車株式会社
-
半導体装置の製造方法及びその製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-149982
Applicant:株式会社東芝
-
絶縁膜の形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-031160
Applicant:ソニー株式会社
-
半導体デバイスにメタル窒化物膜を統合するための方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-290804
Applicant:アプライドマテリアルズインコーポレイテッド
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