Pat
J-GLOBAL ID:200903017981966355
高分子樹脂微粒子、導電性微粒子及びこれを含んだ異方導電性接続材料
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
八田国際特許業務法人
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007542878
Publication number (International publication number):2008521963
Application date: Jun. 27, 2005
Publication date: Jun. 26, 2008
Summary:
【解決手段】粒子径の10%が変形したときの10%K値が250kgf/mm2以上700kgf/mm2以下であり、圧縮回復率が30%以下、圧縮破壊変形が30%以上であることを特徴とする高分子樹脂微粒子、これを用いた導電性微粒子、およびこれを含んだ異方導電性接続材料。【効果】本発明の導電性微粒子は、上記のような高分子樹脂微粒子をその基材として用いているので、適当な圧縮変形性及び回復性を有し、回路基板などの電極間に介在される時に、一定のギャップの大きさを維持しながら、接触面積の向上を図ることにより、優れた接続抵抗及び接続信頼性を示す。【選択図】図1
Claim (excerpt):
粒子径の10%が変形したときの10%K値が250kgf/mm2以上700kgf/mm2以下であり、圧縮
回復率が30%以下、圧縮破壊変形が30%以上であることを特徴とする高分子樹脂微粒子。
IPC (8):
C08F 212/00
, C08F 2/44
, C08F 220/20
, C08F 220/56
, C08F 228/06
, C08F 222/26
, C08F 226/06
, C08J 7/06
FI (9):
C08F212/00
, C08F2/44 C
, C08F220/20
, C08F220/56
, C08F228/06
, C08F222/26
, C08F226/06
, C08J7/06 A
, C08J7/06
F-Term (59):
4F006AA15
, 4F006AA22
, 4F006AB73
, 4F006AB74
, 4F006BA07
, 4F006CA08
, 4F006DA01
, 4F006DA02
, 4F006DA04
, 4J011PA65
, 4J011PB06
, 4J011PC02
, 4J011PC06
, 4J011PC07
, 4J100AB02Q
, 4J100AB03Q
, 4J100AB07Q
, 4J100AB16P
, 4J100AB16Q
, 4J100AC03Q
, 4J100AE02Q
, 4J100AE13Q
, 4J100AE71P
, 4J100AG02Q
, 4J100AG04Q
, 4J100AG10P
, 4J100AL03Q
, 4J100AL04Q
, 4J100AL05Q
, 4J100AL08Q
, 4J100AL10Q
, 4J100AL62P
, 4J100AL63P
, 4J100AL67P
, 4J100AL75P
, 4J100AL79P
, 4J100AM02Q
, 4J100AM59P
, 4J100AP01P
, 4J100AQ21P
, 4J100AS02Q
, 4J100AS03Q
, 4J100BA02P
, 4J100BA03Q
, 4J100BA05P
, 4J100BA08P
, 4J100BA08Q
, 4J100BA56P
, 4J100BB01Q
, 4J100BC43P
, 4J100CA01
, 4J100CA04
, 4J100DA01
, 4J100DA47
, 4J100EA09
, 4J100EA11
, 4J100FA20
, 4J100FA21
, 4J100JA45
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
-
特開昭63-107188号公報
-
WO92/06402号
-
金属の選別回収方法とその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-048268
Applicant:株式会社日立製作所
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Cited by examiner (8)
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