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J-GLOBAL ID：200903018315761354

X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム

Inventor：
寺本 篤司

About 寺本 篤司

, 
村越 貴行

About 村越 貴行


Applicant, Patent owner：
名古屋電機工業株式会社

About 名古屋電機工業株式会社


Agent (1)： 岩上 渉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005308517
Publication number (International publication number)：2007114150
Application date： Oct. 24, 2005
Publication date： May. 10, 2007
Summary：
【課題】X線検査装置の検査精度を向上することが望まれていた。【解決手段】X線によって検査対象を検査するにあたり、X線を検査対象品に照射して複数の方向から撮影した複数のX線画像を取得し、上記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行して検査対象品の3次元画像を取得し、上記取得した3次元画像に基づいて良否の特徴が現れる特徴量を算出し、当該特徴量に基づいて良否判定を行う。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
X線を検査対象品に照射して複数の方向から撮影した複数のX線画像を取得するX線画像取得手段と、 上記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行して検査対象品の3次元画像を取得する3次元画像取得手段と、 上記取得した3次元画像に基づいて良否の特徴が現れる特徴量を算出し、当該特徴量に基づいて良否判定を行う良否判定手段とを備えることを特徴とするX線検査装置。
IPC (1)：
G01N 23/04
FI (1)：
G01N23/04
F-Term (11)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA06 ,  2G001KA03 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 半田形状の検査方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-091180   Applicant：名古屋電機工業株式会社
Cited by examiner (13)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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