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J-GLOBAL ID:200903019548388617
有機材料の評価装置及び評価方法
Inventor:
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
吉田 研二
, 石田 純
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006183587
Publication number (International publication number):2008014668
Application date: Jul. 03, 2006
Publication date: Jan. 24, 2008
Summary:
【課題】有機材料の内部の欠陥情報などを知る。【解決手段】有機材料の評価装置であって、有機デバイスへ所定の波長の単色光を所定のタイミングと強度で照射する単色光照射部26と、所定のタイミングと電圧強度で電圧を印加する電圧パルス発生部20と、所定のタイミングで有機材料のインピーダンスを検出するインピーダンス計測部22を備える。装置制御部40が、それらの各部での条件、測定を制御し、入射単色光と印加パルス電圧とインピーダンスとの対応関係を検出する。例えば、入射光のエネルギに対する有機材料のキャパシタンスの変化量を求めることで有機材料のバンドギャップ内準位の欠陥などに起因した深い準位を評価でき、デバイスの特性・信頼性を評価することが可能となる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
有機材料の評価装置であって、
有機材料に対し所定の波長の単色光を所定のタイミングと強度で照射する単色光照射手段と、
前記有機材料に所定のタイミングで所定電圧強度のパルス電圧を印加するための電圧パルス発生手段と、
前記有機材料のインピーダンスを検出するインピーダンス計測手段と、
入射単色光と印加パルス電圧とインピーダンスとの対応関係を検出する対応関係検出手段と、を有し、
検出した対応関係に基づき有機材料を評価することを特徴とする有機材料の評価装置。
IPC (3):
G01N 27/02
, G01N 27/22
, H05B 33/10
FI (3):
G01N27/02 Z
, G01N27/22 C
, H05B33/10
F-Term (24):
2G060AD05
, 2G060AE01
, 2G060AE29
, 2G060AF03
, 2G060AF06
, 2G060AF10
, 2G060AG11
, 2G060AG15
, 2G060EA05
, 2G060EB03
, 2G060GA01
, 2G060HA03
, 2G060HC08
, 2G060HC13
, 2G060HC19
, 2G060HC21
, 2G060HC22
, 2G060HD03
, 2G060HE03
, 2G060KA09
, 3K107AA01
, 3K107CC01
, 3K107CC21
, 3K107GG56
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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有機ELディスプレイの評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-155397
Applicant:株式会社豊田中央研究所
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有機電子素子形成用材料の解析方法及びその解析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-308072
Applicant:大日本印刷株式会社, システム・インスツルメンツ株式会社
-
装置およびそれを用いた分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-248194
Applicant:株式会社東レリサーチセンター
-
有機材料の微細領域分析方法および微細領域分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-425515
Applicant:シャープ株式会社
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Cited by examiner (5)
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特開平3-033647
-
特開昭58-206135
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有機材料の特性評価方法および特性評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-079879
Applicant:日本放送協会
-
半導体のトラップ評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-264334
Applicant:株式会社デンソー
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有機ELディスプレイの評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-155397
Applicant:株式会社豊田中央研究所
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