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J-GLOBAL ID:200903030075027518 測定チップ
Inventor: Applicant, Patent owner: Agent (1):
渡部 温 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001379414
Publication number (International publication number):2003177092
Application date: Dec. 13, 2001
Publication date: Jun. 27, 2003
Summary:
【要約】【課題】 SPR測定等に用いられる測定チップにおいて、液体の試料が測定チップから漏れ出すのを防ぐ。【解決手段】 全反射減衰を利用した測定において用いられる測定チップであって、測定に用いられる光が入射又は出射される1組の側面を含む角柱又は角錐台形状を有する透明誘電体であって、一方の底面に開口するように形成されている空孔と、一方の底面に空孔の開口部を囲むように形成されている凸部又は凹部とを含む透明誘電体と、空孔の内底面に形成されている金属薄膜とを有する。
Claim (excerpt):
全反射減衰を利用した測定において用いられる測定チップであって、測定に用いられる光が入射又は出射される1組の側面を含む透明誘電体であって、一方の底面に開口するように形成されている空孔と、前記一方の底面に前記空孔の開口部を囲むように形成されている凸部又は凹部とを含む前記透明誘電体と、前記空孔の内底面に形成されている金属薄膜と、を具備する測定チップ。
IPC (4):
G01N 21/27
, G01N 21/03
, G01N 33/543 595
, G01N 33/566
FI (4):
G01N 21/27 C
, G01N 21/03 Z
, G01N 33/543 595
, G01N 33/566
F-Term (20):
2G057AA01
, 2G057AA12
, 2G057AB07
, 2G057AC01
, 2G057BA10
, 2G057BB06
, 2G057CB01
, 2G057JB05
, 2G059AA01
, 2G059BB04
, 2G059BB12
, 2G059CC17
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059FF12
, 2G059JJ06
, 2G059JJ12
, 2G059KK01
, 2G059NN10
Patent cited by the Patent: Cited by examiner (4) - 光学的分析装置用測定チップ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-072460
Applicant:大日本印刷株式会社
- 光学測定用セル
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-322147
Applicant:倉敷紡績株式会社
- 分子間相互作用測定プレートおよび測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-105671
Applicant:株式会社島津製作所
- 全反射減衰を利用した測定方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-049681
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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