Pat
J-GLOBAL ID:200903032398572232
露光装置及びデバイス製造方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 青山 正和
, 西 和哉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003393858
Publication number (International publication number):2004207696
Application date: Nov. 25, 2003
Publication date: Jul. 22, 2004
Summary:
【課題】 投影光学系と基板との間に液体を満たして露光処理する際、液体中の気泡に起因するパターン像の劣化を抑えることができる露光装置を提供する。【解決手段】 露光装置は、投影光学系と基板Pとの間の少なくとも一部を液体で満たし、投影光学系と液体とを介してパターンの像を基板P上に投影することによって基板Pを露光するものであって、投影光学系と基板Pとの間の液体中の気泡を検出する気泡検出器20を備えている。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
投影光学系と基板との間の少なくとも一部を液体で満たし、前記投影光学系と前記液体とを介してパターンの像を基板上に投影することによって、前記基板を露光する露光装置において、
前記投影光学系と前記基板との間の液体中の気泡を検出する気泡検出器を備えたことを特徴とする露光装置。
IPC (3):
H01L21/027
, G01N21/85
, G03F7/20
FI (4):
H01L21/30 515D
, G01N21/85 B
, G03F7/20 521
, H01L21/30 516Z
F-Term (23):
2G051AA48
, 2G051AB02
, 2G051AB06
, 2G051AB20
, 2G051BA20
, 2G051BB05
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CB05
, 2G051EA14
, 2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059CC20
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059GG10
, 2G059KK01
, 2G059MM10
, 5F046AA17
, 5F046BA03
, 5F046CB01
, 5F046CB25
, 5F046DB14
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (10)
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国際公開第99/49504号パンフレット
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液浸式投影露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-339510
Applicant:キヤノン株式会社
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半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-086763
Applicant:日本電気株式会社
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パターン形成方法及びその露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-008136
Applicant:株式会社日立製作所
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原盤露光装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-076450
Applicant:日立マクセル株式会社
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リソグラフィーアライナー、製造装置、または検査装置用の焦点及びチルト調節システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-274812
Applicant:株式会社ニコン
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液浸型露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-121757
Applicant:株式会社ニコン
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露光装置及びその製造方法並びに露光方法及びデバイス製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-151985
Applicant:株式会社ニコン
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投影露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-341445
Applicant:株式会社ニコン
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投影露光装置及び露光方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-239562
Applicant:株式会社ニコン
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