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J-GLOBAL ID:200903039962496147

レーザ熱処理方法およびレーザ熱処理装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 宮田 金雄 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999221021
Publication number (International publication number):2001044120
Application date: Aug. 04, 1999
Publication date: Feb. 16, 2001
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 高移動度の薄膜トランジスタを実現するために、結晶性に優れた基板上膜材料を形成するレーザ熱処理方法を提供する。【解決手段】 基板上膜材料9に対する吸収係数が異なる、第1のパルスレーザ光3と第2のパルスレーザ光4をそれぞれ上記基板上膜材料の同一部分に線状に集光して照射するレーザ熱処理方法。
Claim (excerpt):
基板上膜材料にレーザ光を吸収させて熱処理するレーザ熱処理方法において、上記基板上膜材料に対する吸収係数が異なる、第1のパルスレーザ光と第2のパルスレーザ光をそれぞれ上記基板上膜材料の同一部分に線状に集光して照射するレーザ熱処理方法。
IPC (2):
H01L 21/20 ,  H01L 21/268
FI (3):
H01L 21/20 ,  H01L 21/268 F ,  H01L 21/268 G
F-Term (10):
5F052AA02 ,  5F052BA07 ,  5F052BA11 ,  5F052BA15 ,  5F052BB02 ,  5F052BB03 ,  5F052BB07 ,  5F052DA01 ,  5F052DA02 ,  5F052JA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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