Pat
J-GLOBAL ID：200903055178513235

表面形状測定装置及びその方法、並びに表面状態図化装置

Inventor：
高地 伸夫

About 高地 伸夫

, 
新村 悟

About 新村 悟


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (1)： 宮川 貞二 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001257832
Publication number (International publication number)：2003065737
Application date： Aug. 28, 2001
Publication date： Mar. 05, 2003
Summary：
【要約】【課題】 遺跡埋蔵物や人体等の測定対象物の表面形状や模様を迅速に測定できる表面形状測定装置を提供すること。【解決手段】 測定対象物1をステレオ撮影するステレオ撮影ユニットを複数有するステレオ撮影部3と、前記ステレオ撮影ユニットが測定対象物1をステレオ撮影する複数の方向毎のステレオ撮影パラメータを記憶する手段5と、前記ステレオ撮影パラメータの記憶された前記複数の方向から、前記ステレオ撮影部3により測定対象物1を撮影して、測定対象物1のステレオ画像を生成するステレオ画像生成手段6と、測定対象物1のステレオ画像から測定対象物1の表面形状を測定する表面形状演算処理手段7とを備えている。
Claim (excerpt)：
測定対象物をステレオ撮影するステレオ撮影ユニットを複数有するステレオ撮影部と;前記ステレオ撮影ユニットが前記測定対象物をステレオ撮影する複数の方向毎のステレオ撮影パラメータを記憶する手段と;前記ステレオ撮影パラメータの記憶された前記複数の方向から、前記ステレオ撮影部により前記測定対象物を撮影して、前記測定対象物のステレオ画像を生成する手段と;前記測定対象物のステレオ画像から前記測定対象物の表面形状を測定する手段とを備える;表面形状測定装置。
IPC (4)：
G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 7/60 150 ,  H04N 7/18
FI (5)：
G06T 1/00 315 ,  G06T 7/60 150 S ,  H04N 7/18 C ,  H04N 7/18 V ,  G01B 11/24 K
F-Term (57)：
2F065AA04 ,  2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065BB28 ,  2F065CC00 ,  2F065CC11 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL11 ,  2F065MM23 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS02 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB17 ,  5B057CD11 ,  5B057CE15 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DA17 ,  5B057DB03 ,  5B057DC05 ,  5B057DC06 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC32 ,  5C054AA01 ,  5C054AA05 ,  5C054CC02 ,  5C054FC15 ,  5C054FD01 ,  5C054HA05 ,  5L096AA06 ,  5L096AA09 ,  5L096CA05 ,  5L096DA02 ,  5L096EA07 ,  5L096FA06 ,  5L096FA09 ,  5L096FA60 ,  5L096FA69 ,  5L096GA08
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (21)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM